[發明專利]一種芯片故障檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201110231957.3
• 申請日: 2011-08-12
• 公開（公告）號: CN102288890A
• 公開（公告）日: 2011-12-21
• 發明（設計）人: 鄧志吉
• 申請（專利權）人: 福建星網銳捷網絡有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R19/165
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

1.一種芯片故障檢測方法，其特征在于，包括：

在待檢測芯片啟動過程中，當待檢測芯片的實際供電電壓值達到預設的供電電壓值時，確定此時為一個檢測點；

檢測待檢測芯片在此時的實際吸收電流值是否處于規定的取值范圍之內，若未處于，將該檢測點確定為一個不滿足條件的檢測點；

當存在至少一個不滿足條件的檢測點時，判定所述待檢測芯片處于故障狀態。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，檢測待檢測芯片在此時的實際吸收電流值是否處于規定的取值范圍之內，具體包括：

第一比較器的負極輸入端接收在確定出的該檢測點處對應的供電電壓值，正極輸入端接收所述待檢測芯片的實際供電電壓值；

第二比較器的負極輸入端接收所述待檢測芯片的實際吸收電流值，正極輸入端接收在確定出的檢測點處，規定所述待檢測芯片的實際吸收電流值的上限值，并通過輸出端輸出第一比較結果至第一觸發器的D輸入端；

第三比較器的負極輸入端接收在該檢測點處，規定所述待檢測芯片的實際吸收電流值的下限值，正極輸入端接收所述待檢測芯片的實際吸收電流值，并通過輸出端輸出第二比較結果至第二觸發器的D輸入端；

當待檢測芯片的實際供電電壓值達到在確定出的檢測點處對應的供電電壓值時，第一比較器觸發第一觸發器的Q輸出端輸出第一觸發器的D輸入端接收到的第一比較結果，并觸發第二觸發器的Q輸出端輸出第二觸發器的D輸入端接收到的第二比較結果；

若所述第一比較結果和第二比較結果均為1，確定待檢測芯片在此時的實際吸收電流值處于規定的取值范圍之內；若所述第一比較結果和第二比較結果中，至少一個不為1時，確定待檢測芯片在此時的實際吸收電流值不處于規定的取值范圍之內。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，按照如下公式規定所述待檢測芯片的實際吸收電流值的取值范圍：

I_max＝I*(1+r₁)；I_min＝I*(1-r₂)，其中：

I表示在確定出的檢測點處，所述待檢測芯片處于正常工作狀態時的實際吸收電流值；

r₁表示預設的、允許實際吸收電流值出現的第一誤差率，r₂表示預設的、允許實際吸收電流值出現的第二誤差率；

I_max表示在確定出的檢測點處，規定所述待檢測芯片的實際吸收電流值的上限值；

I_min表示在確定出的檢測點處，規定所述待檢測芯片的實際吸收電流值的下限值。

4.一種芯片故障檢測裝置，其特征在于，包括電流轉化單元，判定單元和至少一個檢測單元，各檢測單元之間采用并聯方式連接，其中：

所述電流轉化單元，用于將待檢測芯片的實際供電電壓值轉化為實際吸收電流值輸出；

每一個檢測單元，用于在待檢測芯片啟動過程中，當待檢測芯片的實際供電電壓值達到預設的供電電壓值時，確定此時為一個檢測點；并檢測待檢測芯片在此時的實際吸收電流值是否處于規定的取值范圍之內，若未處于，將該檢測點確定為一個不滿足條件的檢測點；

所述判定單元，用于當存在至少一個不滿足條件的檢測點時，判定所述待檢測芯片處于故障狀態。