[發明專利]氣體中雜質的去除裝置及維護方法

有效

• 申請號: 201110226195.8
• 申請日: 2011-08-05
• 公開（公告）號: CN102410944A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發明（設計）人: 陳生龍;林德寶;郭鍵平;俞大海
• 申請（專利權）人: 聚光科技(杭州)股份有限公司
• 主分類號: G01N1/22
• 分類號: G01N1/22;G01N1/34
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及氣體中雜質的去除，特別涉及氣體中雜質的去除裝置及維護方法。

背景技術

在高粉塵高濕的場合進行氣體的采樣分析，必須對樣氣進行過濾，并需要對過濾器及取樣系統采用防堵塞的技術。樣氣中由于往往含有大量的水汽，使得粉塵很容易被傳統的多孔介質過濾器吸附并凝結成不容易清除的塊狀層。傳統的多孔介質過濾器再生方法往往是采用壓縮氣體反吹的方式，但是傳統的反吹方式很難將附著在過濾器表面的厚厚一層的板結物質破開。所以對于該類過濾器的解決方式常常是更換過濾器。這樣就增加了非正常維護的時間與成本，不能做到在線連續分析的要求。

申請號為CN90105867.X，名稱為“高溫及高塵防堵塞取樣探頭”的中國專利，公開了一種過濾器防堵塞和再生的方法，即采用內反吹、時序脈沖反吹及測吹的復合吹掃方式，還采用了噴嘴以快速噴射高壓氣的方式使堵塞的過濾器再生的方法。

申請號為CN200420044438.1，名稱為“高效防堵氣體分析取樣探頭”的中國專利，公開了一種氣體分析取樣探頭再生的方法，即采用兩組反吹掃噴口以不同角度吹掃過濾器，吹掃氣先經過預熱，從而不使煙塵“泥漿化”而粘在過濾器上的方式來使得取樣探頭再生。

上述技術方案主要有以下不足：

1、采用了傳統的多孔介質過濾器來去除氣體中的雜質，多孔介質過濾器的孔容易被細小粉塵進入，且表面容易被板結雜質覆蓋，不易被清除。

2、采用了壓縮氣體反吹的方式，雖然吹掃氣可以被預熱，但僅依靠反吹方式及角度的變化，不足以將過濾器完全再生。

發明內容

為了解決上述現有技術方案中的不足，本發明提供一種去除效果好的氣體中雜質的去除裝置，還提供了一種所述氣體中雜質的去除裝置的維護方法。

本發明的目的是通過以下技術方案實現的：

氣體中雜質的去除裝置，包括殼體、進氣口和出氣口；所述去除裝置進一步包括：

顆粒物，所述顆粒物積聚在一起，用于截留氣體中攜帶的雜質；

兩層阻擋部件，所述阻擋部件上具有通孔，用于通過氣體而阻擋所述顆粒物穿過；所述顆粒物處于所述兩層阻擋部件之間，積聚在一起的顆粒物的上表面與上層阻擋部件的距離大于零；

腔體，所述腔體處于積聚在一起的顆粒物的內部，具有用于通過氣體而阻擋所述顆粒物穿過的通孔。

根據上述的去除裝置，所述去除裝置進一步包括：

氣源，所述氣源通過閥門、管路與所述殼體的內部連通。

根據上述的去除裝置，優選地，所述顆粒物、腔體設置在水平方向上。

根據上述的去除裝置，優選地，所述氣源與所述腔體或下層阻擋部件下方的空間連通。

根據上述的去除裝置，優選地，所述腔體是管狀、盤狀。

根據上述的去除裝置，優選地，所述第一開關模塊和/或第二開關模塊是三通閥。

本發明的目的還通過以下技術方案得以實現：

根據上述的去除裝置的維護方法，所述維護方法包括以下步驟：

(A1)向殼體內充入氣體，使所述殼體內保持正壓；

(A2)所述殼體內泄壓，空腔內的氣體劇烈膨脹，將積聚在一起的顆粒物的上層沖開，氣體攜帶著被上層顆粒物截留的雜質穿過上層阻擋部件，之后從所述殼體內排出。

根據上述的維護方法，在所述步驟(A2)中，下層阻擋部件下方的氣體穿過、下層阻擋部件、積聚在一起的顆粒物、腔體，攜帶著被顆粒物截留的雜質穿過上層阻擋部件，之后從所述殼體內排出。

根據上述的維護方法，優選地，在所述步驟(A1)中，向腔體內或下層阻擋部件下方的空間充入氣體。

與現有技術相比，本發明具有的有益效果為：

1、在積聚物內部的腔體具有儲存氣體的功能，在泄壓的情況下，儲存在腔體內的氣體劇烈膨脹能夠為積聚物的流動提供持久強大的動力，帶動積聚物運動，從而有效地破碎積聚物中的雜質。

2、傳統的多孔介質中被攔截的雜質難以被去除，本發明中的積聚物攔截的雜質易被清除，使積聚物攔截功能再生。因此本發明具有易再生壽命長的優勢。

附圖說明

參照附圖，本發明的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是：這些附圖僅僅用于舉例說明本發明的技術方案，而并非意在對本發明的保護范圍構成限制。圖中：

圖1是根據本發明實施例1的氣體中雜質的去除裝置的基本結構圖；

圖2是根據本發明實施例1的維護方法的流程圖。

具體實施方式