[發明專利]一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法

有效

• 申請號: 201110223281.3
• 申請日: 2011-08-05
• 公開（公告）號: CN102354116A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 何益海;米凱;武春暉
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04
• 代理公司: 北京慧泉知識產權代理有限公司 11232
• 代理人: 王順榮;唐愛華

技術領域

本發明提供了一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，屬于統計過程控制技術領域。?

背景技術

統計過程控制是當今一種最流行和最有效的質量改進方法。統計過程控制技術主要指運用休哈特的過程控制理論即控制圖來監測產品在生產過程中的各個階段(工序)的質量特性，根據控制圖上的點子分布狀況，分析質量特性的趨勢，采取預防措施，確保生產過程始終處于統計控制狀態，從而達到改進與保證質量的目的。?

在高質量生產過程里，由于發生過程異常的可能性非常低，使得傳統控制圖變得并不適用。以X控制圖為例，傳統的3σ控制限使得其平均運行鏈長在370.3，而高質量過程中發生異常的可能性在百萬分之一甚至更低，這使得在控制圖發出正確報警之前，可能已經發生了上千次誤報警。在實際生產過程中，這是很難被接受的。為此，本文給出了一種用于高質量過程統計過程監控的控制圖，Ω事件間隔控制圖的制作方法，用于高質量過程的監控。?

發明內容

(1)本發明的目的：針對高質量監測過程中誤報警幾率過高，傳統控制圖并不適用的問題，本發明提供一種新的控制圖——一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法。假設過程服從正態分布，認為過程每個被監測的點落到某一數值區間這一事件(稱該事件為Ω事件)的概率是不變的，如果該“概率”發生改變則過程失控，本發明監測Ω事件的發生間隔，從而大大降低了控制圖發生誤報警的概率，使得其適用于高質量過程的監控。?

(2)技術方案：?

本發明一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，提出的基本假設如下：?

假設1過程是可測量。?

假設2過程觀測值是連續的。?

假設3過程觀測值相互獨立。?

假設4過程觀測值服從正態分布。?

基于上述假設，本發明一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其步驟如下：?

步驟1收集歷史數據；?

步驟2對歷史數據進行統計描述，計算其均值與標準差，分析過程是否受控，若過程不受控，則需要查找過程失控原因，對過程進行調整修復，重新進入步驟1；若過程受控，則進入步驟3；?

步驟3設計Ω事件間隔控制圖參數；?

步驟4監測過程Ω事件的發生，記錄其發生的時間點，記錄連續r個Ω事件發生的時間間隔；?

步驟5根據控制上限UCL，控制下限LCL，連續r個Ω事件發生的時間間隔繪制時序的Ω事件間隔控制圖；?

其中，步驟1中所述的收集歷史數據，是指應當采集20-70組歷史數據，樣本數量太少，不利于評估過程是否失控，樣本數量過多，則會增加采樣成本。?

其中，步驟2中所述的判斷過程是否受控，是指子組大小為1時通常使用單值移動極差控制圖(I-MR控制圖)，否則使用均值極差控制圖(?控制圖)來進行過程是否受控的判斷。所述的計算歷史數據均值計算方法為將歷史數據所有數據加和再除以數據的個數。所述的計算歷史數據標準差計算方法為，假定歷史數據為X₁，X₂，……，X_n，歷史數據均值為?標準差為Σi=1n(Xi-X‾)2n-1.]]>

其中，步驟3中所述的設計Ω事件間隔控制圖參數，是指Ω事件的數值區間設定參數ζ，一個被監測時間間隔里連續發生Ω事件的數目r，控制上限UCL，控制下限LCL。?

其中，步驟4中所述Ω事件，參數r由步驟3確定。?

其中，步驟5中所述控制上限UCL，控制下限LCL由步驟3確定。步驟5中所述連續r個Ω事件發生的時間間隔由步驟4監測而來。?