[發明專利]一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法

有效

• 申請號: 201110223281.3
• 申請日: 2011-08-05
• 公開（公告）號: CN102354116A
• 公開（公告）日: 2012-02-15
• 發明（設計）人: 何益海;米凱;武春暉
• 申請（專利權）人: 北京航空航天大學
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04
• 代理公司: 北京慧泉知識產權代理有限公司 11232
• 代理人: 王順榮;唐愛華

1.一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，如果其過程是可測量的，且其過程觀測值是連續、相互獨立的并服從正態分布，其特征在于：該制作方法的步驟如下：

步驟1收集歷史數據；

步驟2對歷史數據進行統計描述，計算其均值與標準差，分析過程是否受控，若過程不受控，則需要查找過程失控原因，對過程進行調整修復，重新進入步驟1；若過程受控，則進入步驟3；

步驟3設計Ω事件間隔控制圖參數；

步驟4監測過程Ω事件的發生，記錄其發生的時間點，記錄連續r個Ω事件發生的時間間隔；

步驟5根據控制上限UCL，控制下限LCL，連續r個Ω事件發生的時間間隔繪制時序的Ω事件間隔控制圖。

2.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟1中所述的收集歷史數據，是指采集20-70組歷史數據。

3.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟2中所述的判斷過程是否受控，是指子組大小為1時通常使用單值移動極差控制圖即I-MR控制圖，否則使用均值極差控制圖即X-R控制圖，來進行過程是否受控的判斷。

4.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟2中所述的計算歷史數據均值計算方法，是將歷史數據所有數據加和再除以數據的個數；所述的計算歷史數據標準差計算方法為，假定歷史數據為X₁，X₂，……，X_n，歷史數據均值為標準差為Σi=1n(Xi-X‾)2n-1.]]>

5.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟3中所述的設計Ω事件間隔控制圖參數，是指Ω事件的數值區間設定參數ζ，一個被監測時間間隔里連續發生Ω事件的數目r，控制上限UCL，控制下限LCL。

6.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟4中所述Ω事件，參數r由步驟3確定。

7.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟5中所述控制上限UCL，控制下限LCL由步驟3確定。

8.根據權利要求1所述的一種高質量過程統計控制的Ω事件間隔控制圖的制作方法，其特征在于：步驟5中所述連續r個Ω事件發生的時間間隔由步驟4監測而來。