[發明專利]試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法

無效

• 申請號: 201110222600.9
• 申請日: 2011-08-04
• 公開（公告）號: CN102411671A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發明（設計）人: 羅宇龍;楊晨
• 申請（專利權）人: 深圳市海云天教育測評有限公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 楊宏;劉文求

技術領域

本發明涉及試卷測評技術領域，特別涉及一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法。

背景技術

試卷質量的的好壞是對教學測試的反思：既是對教師教的反思、也是對學生學的反思，因此，對試卷質量的評定是提高命題水平必不可少的一個環節。

現有技術中評判試卷質量的方法通常只是評定試卷的難易程度：客觀題難度計算公式：P1（客觀題難度指數）＝試題答對人數/考生人數；主觀題難度計算公式：P2（主觀題難度指數）＝試題平均得分/試題滿分。易、中、難的標準為：易：P（包括P1和P2）≥0.7，中：0.4≤P≤0.69，難：P≤0.39；P值越大，難度越低，P值越小，難度越高。一般來說，難度值平均在0.5最佳，難度值過高或過低，都會降低測驗的信度。然而，這種做法只能從一定反映出試卷的質量，無法更好地通過更多的數據客觀地表達出試卷的準確性和穩定性，而且不能使人直觀地看出評定結果，很難給今后的教學和命題帶來更多的啟示。

有鑒于此，需要提供一種新的試卷質量的檢測技術。

發明內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本發明的目的在于提供一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法，以解決現有技術的試卷評定機制只能簡單地評定試卷的難易程度、區分度等，不能客觀表達出試卷的準確性和穩定性的問題。

為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案：

一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，包括：

采集單元，用于采集評卷員對于試卷的評定信息；

統計單元，用于根據評定信息制定S-P表；

曲線擬合單元，用于根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；

測評單元，用于根據試卷評分S曲線算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2；

繪圖單元，用于根據試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，所述采集單元中試卷的評定信息具體為：若評卷員對試卷的試題認可，則記為1；反之則記為0。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，所述測評單元中評分員注意系數CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，N1為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述測評單元中試卷的自身一致性系數P2=(P1-P3)/(1-P3)；

其中，P1=（A+D）/（A+B+C+D），P3=（A+B）/（A+B+C+D）*（A+C）/（A+B+C+D）+（C+D）/（A+B+C+D）*（B+D）/（A+B+C+D）；

所述A為1時，表示評卷員對試題的評定結果與自己正常水平的評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0；B為1時，表示與自己正常水平的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為0；C為1時，表示與自己正常水平的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0；D為1時，表示與自己正常水平的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。

一種試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述方法包括以下步驟：

S1、采集評卷員對于試卷的評定信息；

S2、根據評定信息制定S-P表；

S3、根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；

S4、根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ；

S5、計算出試卷的自身一致性系數P2；

S6、根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟S1中試卷的評定信息具體為，若評卷員對試卷的試題認可，則記為1；反之則記為0。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟S4中評分員注意系數CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，N1為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。

所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟S5中試卷的自身一致性系數P2=(P1-P3)/(1-P3)；