[發明專利]試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法

無效

• 申請號: 201110222600.9
• 申請日: 2011-08-04
• 公開（公告）號: CN102411671A
• 公開（公告）日: 2012-04-11
• 發明（設計）人: 羅宇龍;楊晨
• 申請（專利權）人: 深圳市海云天教育測評有限公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 楊宏;劉文求

1.一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，包括：

采集單元，用于采集評卷員對于試卷的評定信息；

統計單元，用于根據評定信息制定S-P表；

曲線擬合單元，用于根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；

測評單元，用于根據試卷評分S曲線算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2；

繪圖單元，用于根據試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。

2.根據權利要求1所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，所述采集單元中試卷的評定信息具體為：若評卷員對試卷的試題認可，則記為1；反之則記為0。

3.根據權利要求2所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，所述測評單元中評分員注意系數CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，N1為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。

4.根據權利要求2所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述測評單元中試卷的自身一致性系數P2=(P1-P3)/(1-P3)；

其中，P1=（A+D）/（A+B+C+D），P3=（A+B）/（A+B+C+D）*（A+C）/（A+B+C+D）+（C+D）/（A+B+C+D）*（B+D）/（A+B+C+D）；

所述A為1時，表示試題的評定結果與試題前次評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0；B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為0；C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0；D為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。

5.一種試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

S1、采集評卷員對于試卷的評定信息；

S2、根據評定信息制定S-P表；

S3、根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；

S4、根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ；

S5、計算出試卷的自身一致性系數P2；

S6、根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。

6.根據權利要求5所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟S1中試卷的評定信息具體為，若評卷員對試卷的試題認可，則記為1；反之則記為0。

7.根據權利要求6所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟S4中評分員注意系數CJ=（K1*K2）/K3-N1*N2,其中，K1為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，N1為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。

8.根據權利要求6所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟S5中試卷的自身一致性系數P2=(P1-P3)/(1-P3)；

其中，P1=（A+D）/（A+B+C+D），P3=（A+B）/（A+B+C+D）*（A+C）/（A+B+C+D）+（C+D）/（A+B+C+D）*（B+D）/（A+B+C+D）；

所述A為1時，表示試題的評定結果與試題前次評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0；B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為0；C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0；D為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。