[發明專利]一種錐度檢測的方法

有效

• 申請號: 201110220631.0
• 申請日: 2011-08-03
• 公開（公告）號: CN102914241A
• 公開（公告）日: 2013-02-06
• 發明（設計）人: 鄔建江
• 申請（專利權）人: 上海電氣集團上海電機廠有限公司
• 主分類號: G01B5/24
• 分類號: G01B5/24
• 代理公司: 上海兆豐知識產權代理事務所(有限合伙) 31241
• 代理人: 黃美英

技術領域

本發明涉及一種機械加工領域的錐度檢測的方法。

背景技術

錐度配合被機械加工中廣泛運用，但實際錐度接觸面檢測驗證缺少有效方法。

現有錐度檢測的常用方法為接觸面檢查法。接觸面檢查法采用在外錐軸外圓錐面涂三條紅丹粉線，再將內套錐與外錐軸相套接，然后將外錐軸與內套錐之間相互旋轉120度，最后將內套錐和外錐軸分開，查看內套錐內圓錐面紅丹粉被擦印跡，進行檢驗。這種方式缺陷在于檢查接觸面時轉動了內套錐，接觸面差的地方因人為作用因素造成接觸面夸大了。

發明內容

本發明的目的是為了克服現有技術的不足，提供一種錐度檢測的方法。其排除了套錐重量造成被擦痕跡假象，使錐度的檢測更加準確。

實現上述目的的一種技術方案是：一種錐度檢測的方法，其包括下列步驟：

涂線步驟：采用有色粉末，在外錐軸上沿所述外錐軸的外圓錐面的圓錐母線涂一條直線；

套接步驟：將所述內套錐的內圓錐面與所述外錐軸的外圓錐面相套接，其中：

套接步驟中，所述外錐軸的外圓錐面和內套錐的內圓錐面之間不發生相互轉動；

分離步驟：將所述內套錐的內圓錐面與所述外錐軸的外圓錐面分開，所述內套錐的內圓錐面上留下沿所述內套錐的內圓錐面的圓錐母線方向的痕跡；

判斷步驟：根據內套錐的內圓錐面上的所述痕跡，判斷外錐軸的外圓錐面與內套錐內圓錐面的接觸情況：

當所述內套錐的內圓錐面上的所述痕跡與所述外錐軸的外圓錐面(11上的直線的長度相等且所述痕跡顏色的深度保持一致時，則表示內套錐與外錐軸的配合良好；

當所述內套錐的內圓錐面上所述痕跡的長度短于所述外錐軸的外圓錐面上的直線或者所述痕跡顏色的深度不一致，則表示內套錐(2)與外錐軸的配合不良。

進一步的，在所述分離步驟和判斷步驟之間，還包括下列步驟：

膠印復制步驟：用透明膠印紙提取留在內套錐的內外圓錐面上的痕跡；

粘貼顯色步驟：將透明膠印紙提取的痕跡粘貼復制在白紙上。

進一步的，所述直線沿所述外錐軸的外圓錐面的圓錐母線，從所述外錐軸的外圓錐面的底部繪制到所述外圓錐面的半高處。

進一步的，所述有色粉末為紅丹粉。

本發明的一種檢測錐度的方法，由于內外圓錐面只發生了軸向接觸，而外錐軸面與內套錐之間并未發生旋轉，避免了接觸面差的地方因人為作用因素造成接觸面夸大這種情況的發生。

附圖說明

圖1為本發明的外錐軸外圓錐面上繪制直線示意圖；

圖2為本發明內套錐與外錐軸套接前位置示意圖；

圖3為本發明內套錐與外錐軸套接后位置示意圖；

圖4為本發明內套錐內圓錐面留下痕跡示意圖。

具體實施方式

請參閱圖1至圖2，本發明的為了能更好地對本發明的技術方案進行理解，下面通過具體的實施例，并結合附圖進行詳細地說明：

在最佳實施例中，本發明的錐度檢測的方法，采用了紅丹粉作為有色粉末，在外錐軸1的外圓錐面11上繪制直線。

具體實施例中包括下列步驟：

涂線步驟：請參閱圖1，為了能使紅丹粉黏附在外錐軸1的外圓錐面11和內套錐2的內圓錐面21上，首先要用機油或者其他液體，潤濕的紅丹粉；然后用經過潤濕的紅丹粉，在外錐軸1上沿所述外錐軸1的外圓錐面11的圓錐母線繪制直線12。

套接步驟：請參閱圖2和圖3，將所述內套錐2與外錐軸1相套接，使所述內套錐2的內圓錐面21與外錐軸1的外圓錐面11沿所述外錐軸1外圓錐面11的圓錐母線軸向接觸，套接的過程中，所述內套錐2的內圓錐面21和外錐軸1的外圓錐面11之間不發生相互轉動。

請參閱圖4：將所述內套錐2的內圓錐面21與所述外錐軸1的外圓錐面11分開，所述內套錐2的內圓錐面21上留下痕跡22；

內套錐2上端面附近，在重力因素作用下，內套錐2的內圓錐面21與外錐軸1的外圓錐面11的接觸良好，因此內套錐2的內圓錐面21底部附近的痕跡才真實反映內套錐2和外錐軸1之間真實的配合狀況。

在內套錐2與外錐軸1套接的過程中，由于內套錐2的內圓錐面21和外錐軸1的外圓錐面11之間相互接觸時，因為內套錐2重量的因素，紅丹粉容易在內套錐2的內圓錐面21留下擦痕，為了排除了外內套錐重量造成被擦痕跡假象，因此本實施例中直線12沿所述外錐軸1的外圓錐面11的圓錐母線；從所述外錐軸1外圓錐面11的底部繪制到所述外圓錐面11的半高處。