[發明專利]一種錐度檢測的方法有效
| 申請號： | 201110220631.0 | 申請日： | 2011-08-03 |
| 公開（公告）號： | CN102914241A | 公開（公告）日： | 2013-02-06 |
| 發明（設計）人： | 鄔建江 | 申請（專利權）人： | 上海電氣集團上海電機廠有限公司 |
| 主分類號： | G01B5/24 | 分類號： | G01B5/24 |
| 代理公司： | 上海兆豐知識產權代理事務所(有限合伙) 31241 | 代理人： | 黃美英 |
| 地址： | 200240 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 錐度 檢測 方法 | ||
1.一種錐度檢測的方法，其包括下列步驟：
涂線步驟：采用有色粉末，在外錐軸(1)上沿所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)的圓錐母線涂一條直線(12)；
套接步驟：將所述內套錐(2)的內圓錐面(21)與所述外錐軸(1)的外圓錐面(21)相套接，其中：
套接步驟中，所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)和內套錐(2)的內圓錐面(21)之間不發生相互轉動；
分離步驟：將所述內套錐(2)的內圓錐面(21)與所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)分開，所述內套錐(2)的內圓錐面(21)上留下沿所述內套錐(2)的內圓錐面(21)的圓錐母線方向的痕跡(22)；
判斷步驟：根據內套錐(2)的內圓錐面(21)上的所述痕跡(22)，判斷外錐軸(1)的外圓錐面(11)與內套錐(2)內圓錐面(21)的接觸情況：
當所述內套錐(2)的內圓錐面(21)上的所述痕跡(22)與所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)上的直線(12)的長度相等且所述痕跡(22)顏色的深度保持一致時，則表示內套錐(2)與外錐軸(1)的配合良好；
當所述內套錐(2)的內圓錐面(21)上所述痕跡(22)的長度短于所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)上的直線或者所述痕跡(22)顏色的深度不一致，則表示內套錐(2)與外錐軸(1)的配合不良。
2.如權利要求1所述的錐度檢測的方法，其特征在于在將所述分離步驟和判斷步驟之間，還包括下列步驟：
膠印復制步驟：用透明膠印紙提取留在內套錐(2)的內外圓錐面(21)上的痕跡(22)；
粘貼顯色步驟：將透明膠印紙提取的痕跡(22)粘貼復制在白紙上。
3.如權利要求1或2所述的錐度檢測的方法，其特征在于沿所述直線(12)沿所述外錐軸(1)的外圓錐面(11)的圓錐母線，從所述外錐軸(2)的外圓錐面(21)的底部繪制到所述外圓錐面(11)的半高處。
4.如權利要求1或2所述的錐度檢測的方法，其特征在于所述有色粉末為紅丹粉。
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