[發明專利]數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置及其方法

有效

• 申請號: 201110217099.7
• 申請日: 2011-07-29
• 公開（公告）號: CN102305912A
• 公開（公告）日: 2012-01-04
• 發明（設計）人: 向東;陳振
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G01R31/319
• 分類號: G01R31/319
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置，其特征在于，包括：掃描森林、異或門網絡、輸出選擇電路、第一控制寄存器和第二控制寄存器；其中，

所述掃描森林，包括多個掃描輸入端和多個相互連接的掃描觸發器組，所述掃描輸入端連接第一個掃描觸發器組中的所有掃描觸發器，各掃描觸發器組中的所有掃描觸發器連接上一掃描觸發器組中掃描觸發器的輸出端，所述多個掃描輸入端對應多個掃描樹，所述掃描樹中的每個掃描觸發器，與前一個掃描觸發器的輸出端連接，形成掃描鏈；

所述異或門網絡中的每個異或門的輸入端與所述掃描森林的最后一組掃描觸發器組中的掃描觸發器輸出端相連；

所述輸出選擇電路連接所述異或門網絡，用于選擇每個時鐘周期內需要觀測的測試響應；

所述第一控制寄存器，用于控制時鐘屏蔽信號；

所述第二控制寄存器，用于對所述輸出選擇電路進行控制。

2.如權利要求1所述的數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置，其特征在于，所述第一控制寄存器包括多個寄存器單元，每個時鐘周期里，其中一個單元的值為1，其余單元的值為0。

3.如權利要求1所述的數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置，其特征在于，所述第二控制寄存器包括多個寄存器單元，每個時鐘周期里，需要被觀測的掃描樹對應單元的值為1，其余單元的值為0。

4.如權利要求1所述的數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置，其特征在于，所述輸出選擇電路包括與門和或門。

5.如權利要求1所述的數據可壓縮的低功耗集成電路測試裝置，其特征在于，兩個掃描鏈連接同一個異或門。

6.一種利用權利要求1-5中任一項所述裝置對集成電路進行測試的方法，其特征在于，包括以下步驟：

A：利用選擇壓縮方法對每一個測試向量進行編碼；

B：生成和每一個測試向量對應的測試響應選擇向量；

C：對每一個測試向量進行低功耗測試。

7.如權利要求6所述的對集成電路進行測試的方法，其特征在于，所述步驟A進一步包括：

A1：將所述測試向量分為長度等于n的段，對每一個子向量段用c＝[log₂(n+1)+2]位編碼，其中2位是控制位，其余log₂(n+1)位是數據位；

A2：統計每一子向量段中所含0的個數a和1的個數b；

A3：若a＝1，使控制位為01，數據位表示0的位置；若a＝0，使控制位為01，數據位為log₂(n+1)個1；

若b＝1，使控制位為00，數據位表示1的位置；若b＝0，使控制位為00，數據位為log₂(n+1)個1；

若a＞1且b＞1，將所述測試向量被分得的長度為n的段分為長度小于c的段，每一段用c+2位表示，使控制位為11，數據位為對應的長度小于c的段的值。

8.如權利要求6所述的對集成電路進行測試的方法，其特征在于，所述步驟B進一步包括：

B1：對于測試向量能夠檢測到的每一個故障f，模擬找出故障能夠傳播到的輸出集合list(f)＝(O₁，...，O_m)；

B2：對于每一個輸出，找出它能夠觀測到的故障列表observe(O_i)＝{f₁，...，f_t}；

B3：對輸出集合和故障集合進行初始化，使輸出集合為所有能觀測到故障的輸出，故障集合為所有能被檢測到的故障；

B4：從所述輸出集合中選出能夠觀測最多故障的輸出，從所述故障集合中刪除該輸出所觀測到的故障，同時從輸出集合中刪除該輸出；

B5：重復步驟B4，直至故障集合為空；

B6：將第二控制寄存器中與從輸出集合刪除的輸出對應的單元置為1，生成測試響應選擇向量。

9.如權利要求6所述的對集成電路進行測試的方法，其特征在于，所述步驟C進一步包括：

C1：對編碼后的測試向量進行解碼；

C2：將解碼得到的測試向量輸入n個掃描樹中；

C3：i＝1；

C4：第i個掃描樹捕獲測試響應；

C5：根據測試響應選擇向量移出每個掃描樹的需要觀測的測試響應，同時重新移入第i個掃描樹對應的測試向量；

C6：i增加1，如果i＜＝n，重復C4和C5。