[發(fā)明專利]D二聚體測定用試劑有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110210973.4 | 申請日: | 2011-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN102346192A | 公開(公告)日: | 2012-02-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 永井圭介;山下和昭;星子進;鈴木健史 | 申請(專利權(quán))人: | 希森美康株式會社 |
| 主分類號: | G01N33/577 | 分類號: | G01N33/577 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 羅菊華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二聚體 測定 試劑 | ||
1.D二聚體測定用試劑,其包括:固定了第1及第2單克隆抗體的載質(zhì),所述第1及第2單克隆抗體與D二聚體反應,但對D二聚體的反應性互相不同;其中,
上述第1單克隆抗體與D二聚體的高分子級分及低分子級分反應,
上述第2單克隆抗體與上述高分子級分反應,但上述第2單克隆抗體與上述低分子級分的反應性與上述第1單克隆抗體不同。
2.權(quán)利要求1所述的D二聚體測定用試劑,其中上述載質(zhì)是粒子。
3.權(quán)利要求2所述的D二聚體測定用試劑,其中上述載質(zhì)粒子個別地固定上述第1及第2單克隆抗體。
4.權(quán)利要求1所述的D二聚體測定用試劑,其中上述第1單克隆抗體是由以保藏號FERM?BP-11393在獨立行政法人產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所于2004年2月17日保藏的雜交瘤產(chǎn)生的抗體。
5.權(quán)利要求1~4之任一項所述的D二聚體測定用試劑,其中上述第2單克隆抗體是由以保藏號NITE?BP-968在獨立行政法人制品評價技術(shù)基盤機構(gòu)保藏的雜交瘤產(chǎn)生的抗體。
6.權(quán)利要求1~4之任一項所述的D二聚體測定用試劑,其中上述第2單克隆抗體是由以保藏號NITE?BP-969在獨立行政法人制品評價技術(shù)基盤機構(gòu)保藏的雜交瘤產(chǎn)生的抗體。
7.D二聚體測定用試劑,其包括:固定了第1及第2單克隆抗體的載質(zhì),所述第1及第2單克隆抗體與D二聚體反應,但對D二聚體的反應性互相不同;其中,
上述第1單克隆抗體與X級分、Y級分及D二聚體反應,但不與D級分及E級分反應,
上述第2單克隆抗體與D二聚體反應,但不與X級分、Y級分及E級分反應。
8.權(quán)利要求7所述的D二聚體測定用試劑,其中上述第2單克隆抗體不與D級分反應。
9.權(quán)利要求7所述的D二聚體測定用試劑,其中上述第2單克隆抗體與D級分反應。
10.D二聚體測定用試劑盒,其包括:
第1試劑,其含緩沖液;及
第2試劑,其含固定了第1及第2單克隆抗體的載質(zhì)粒子,所述第1及第2單克隆抗體與D二聚體反應,但對D二聚體的反應性不同;
其中,
上述第1單克隆抗體與D二聚體的高分子級分及低分子級分反應,
上述第2單克隆抗體與上述高分子級分反應,但上述第2單克隆抗體與上述低分子級分的反應性與上述第1單克隆抗體不同。
11.權(quán)利要求10所述的D二聚體測定用試劑盒,其中上述第1試劑含上述第1和/或第2單克隆抗體。
12.權(quán)利要求11所述的D二聚體測定用試劑盒,其中上述第1試劑含與D二聚體的高分子級分及低分子級分反應的抗體。
13.D二聚體測定用試劑,其包括:
第1試劑,其含緩沖液;及
第2試劑,其含固定了第1及第2單克隆抗體的載質(zhì)粒子,所述第1及第2單克隆抗體與D二聚體反應,但對D二聚體的反應性互相不同;
其中,
上述第1單克隆抗體與X級分、Y級分及D二聚體反應,但不與D級分及E級分反應,
上述第2單克隆抗體與D二聚體反應,但不與X級分、Y級分及E級分反應。
14.權(quán)利要求13所述的D二聚體測定用試劑盒,其中上述第1試劑含上述第1和/或第2單克隆抗體。
15.權(quán)利要求14所述的D二聚體測定用試劑盒,其中上述第1試劑含與X級分、Y級分及D二聚體反應,但不與D級分及E級分反應的抗體。
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