[發(fā)明專利]一種藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110202343.2 | 申請日: | 2011-07-19 |
| 公開(公告)號: | CN102306600A | 公開(公告)日: | 2012-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 鄒繼軍;常本康;張益軍;金解云;鄧文娟;彭新村 | 申請(專利權(quán))人: | 東華理工大學(xué) |
| 主分類號: | H01J29/04 | 分類號: | H01J29/04;H01J9/02 |
| 代理公司: | 南昌新天下專利商標(biāo)代理有限公司 36115 | 代理人: | 施秀瑾 |
| 地址: | 江西省撫州市*** | 國省代碼: | 江西;36 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 延伸 變帶隙 algaas gaas 光電 陰極 及其 制備 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光電發(fā)射材料技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種AlxGa1-xAs/GaAs化合物半導(dǎo)體材料組分控制與外延生長技術(shù)相結(jié)合的藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極及其制備方法。
背景技術(shù)
光電陰極是一種利用外光電效應(yīng)將光信號轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘柕墓怆姲l(fā)射材料。具有負(fù)電子親和勢GaAs光電陰極由于量子效率高、暗發(fā)射小、能量和空間分辨率高、發(fā)射電流密度大且可實現(xiàn)均勻平面電子發(fā)射等眾多優(yōu)點,在光電探測與成像等領(lǐng)域中得到了廣泛應(yīng)用。
用于光電成像中的AlGaAs/GaAs光電陰極由于AlGaAs緩沖層的吸收作用,對于藍(lán)紫光和更短波長的光響應(yīng)率不高。通常AlGaAs/GaAs光電陰極的探測波段為550nm~900nm?。為了探測、識別和確認(rèn)沙漠地帶或沙地景物,美國ITT公司研制成功了藍(lán)光延伸的三代微光像增強器。在這項技術(shù)中,他們采用藍(lán)光透射率更高的玻璃,并減小AlGaAs緩沖層厚度和增加Al組分來提高藍(lán)光透射率。測試結(jié)果表明,藍(lán)延伸陰極對波長小于550nm光子探測的量子效率明顯提高,但當(dāng)波長小于400nm后,量子效率又呈快速下降趨勢,同時藍(lán)延伸陰極還犧牲了長波量子效率。造成這種現(xiàn)象的原因主要有兩個方面,首先AlGaAs緩沖層不能太薄,否則失去了緩沖的意義,因而藍(lán)光透射率的提高是有一定限度的,其次緩沖層中產(chǎn)生的大量光電子絕大部分都在緩沖層中復(fù)合了,沒有得到充分的利用。因而解決好AlGaAs緩沖層光子吸收對光電發(fā)射的影響問題對于實現(xiàn)GaAs光電陰極的藍(lán)延伸,提高短波光子量子效率具有重要意義。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有AlGaAs/GaAs光電陰極不能很好的探測藍(lán)、紫光,短波光子量子效率不高的現(xiàn)狀,本發(fā)明提供了一種基于變帶隙AlxGa1-xAs緩沖層的AlGaAs/GaAs光電陰極及其制備方法。
本發(fā)明以改變AlxGa1-xAs材料中Al組分x的含量,從而改變半導(dǎo)體材料的帶隙(禁帶寬度),在AlGaAs/GaAs結(jié)構(gòu)的AlGaAs緩沖層中形成一個很強的內(nèi)建電場。入射光子通過AlGaAs時激發(fā)的光電子就能以很快的漂移速度向GaAs發(fā)射層輸運,從而能夠在不影響長波光子探測的情況下大大提高藍(lán)、紫光等短波光子探測的量子效率,實現(xiàn)本發(fā)明藍(lán)延伸探測的設(shè)想。
本發(fā)明的半導(dǎo)體光電陰極包括:9741玻璃、SiO2鈍化層、Si3N4增透膜、變帶隙AlxGa1-xAs緩沖層、p型GaAs發(fā)射層以及Cs/O激活層組成:所述變帶隙AlxGa1-xAs緩沖層,厚度為1~2μm,摻雜濃度為(5~10)×1018cm-3,AlxGa1-xAs層Al組分從Si3N4增透膜往GaAs發(fā)射層方向由最大0.4~0.7線性下降到零。
此外,在上述的藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極,玻璃采用紫外透過率高的9741玻璃(可通過市購得到)。
此外,在上述的藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極,Si3N4增透膜的厚度為60~100nm。
此外,在上述的藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極,GaAs發(fā)射層的p型摻雜濃度為1×1019cm-3。
此外,在上述的藍(lán)延伸變帶隙AlGaAs/GaAs光電陰極,GaAs發(fā)射層的厚度為1~2μm。
該方法按以下步驟依次進(jìn)行,
步驟(1),準(zhǔn)備GaAs襯底,GaAs襯底作“籽晶”要求其位錯密度低于103cm-3,并且均勻性好,晶向朝(100)面偏3o切割;利用金屬有機(jī)化合物氣相沉積法(MOCVD)在GaAs襯底上順序生長AlGaAs阻擋層,GaAs發(fā)射層和變帶隙AlxGa1-xAs緩沖層;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于東華理工大學(xué),未經(jīng)東華理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110202343.2/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





