[發(fā)明專利]鉚件檢測(cè)裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110174915.0
• 申請(qǐng)日: 2011-06-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102854427A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-01-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蕭啟成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 北京同立鈞成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 臧建明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測(cè)裝置，尤其涉及一種鉚件檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

伺服器為網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)中服務(wù)各計(jì)算機(jī)的核心計(jì)算機(jī)，可提供網(wǎng)絡(luò)使用者需要的磁盤與打印服務(wù)等功能，同時(shí)也可供各用戶端彼此共享網(wǎng)絡(luò)環(huán)境內(nèi)的各項(xiàng)資源。伺服器的基本架構(gòu)和一般的個(gè)人計(jì)算機(jī)大致相同，是由中央處理器(CPU)、存儲(chǔ)器(Memory)及輸入/輸出(I/O)設(shè)備等部件所組成，并由總線(Bus)在內(nèi)部將其連接起來(lái)，通過(guò)北橋芯片連接中央處理器和存儲(chǔ)器，而通過(guò)南橋芯片連接輸入/輸出設(shè)備等。

許多伺服器的機(jī)殼需鉚接一些鉚件以利組裝，鉚件越多則漏鉚的機(jī)率越大，因此需要對(duì)機(jī)殼進(jìn)行檢查以確定是否有漏鉚的情況。一般來(lái)說(shuō)，多以肉眼觀察的方式對(duì)機(jī)殼進(jìn)行漏鉚的檢查，然而此種檢查方式需要耗費(fèi)較多的人力與時(shí)間，且可能因檢查者的疏忽而有檢查不確實(shí)的情況發(fā)生。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種鉚件檢測(cè)裝置，可節(jié)省檢測(cè)時(shí)間并提高檢測(cè)準(zhǔn)確率。

本發(fā)明提出一種鉚件檢測(cè)裝置，適于對(duì)金屬殼體進(jìn)行檢測(cè)。金屬殼體具有多個(gè)開(kāi)孔。多個(gè)鉚件分別鉚接于至少部分開(kāi)孔。鉚件檢測(cè)裝置包括主體、至少一第一導(dǎo)電柱、多個(gè)第二導(dǎo)電柱及多個(gè)發(fā)光元件。主體具有表面。第一導(dǎo)電柱固定于表面上。第二導(dǎo)電柱固定于表面上。各開(kāi)孔的孔徑大于各第二導(dǎo)電柱的外徑。發(fā)光元件電性連接于第一導(dǎo)電柱，且分別電性連接于第二導(dǎo)電柱。當(dāng)金屬殼體置放于主體上時(shí)，第一導(dǎo)電柱接觸金屬殼體，第二導(dǎo)電柱分別對(duì)位于開(kāi)孔而不接觸金屬殼體，且各鉚件接觸對(duì)應(yīng)的第二導(dǎo)電柱以使對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件導(dǎo)通而發(fā)光。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的各鉚件具有螺孔。各螺孔的孔徑小于各第二導(dǎo)電柱的外徑。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的各發(fā)光元件包括發(fā)光二極管(light?emitting?diode，LED)光源。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的鉚件檢測(cè)裝置還包括板體。發(fā)光元件配置于板體上。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的鉚件檢測(cè)裝置還包括多個(gè)限位件，固定于主體。當(dāng)金屬殼體置放于主體上時(shí)，金屬殼體的邊緣抵靠于限位件。

在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述的至少一第一導(dǎo)電柱的數(shù)量為多個(gè)且均布于表面。

基于上述，本發(fā)明的鉚件檢測(cè)裝置在主體配置至少一第一導(dǎo)電柱及多個(gè)第二導(dǎo)電柱，多個(gè)發(fā)光元件電性連接至第一導(dǎo)電柱并分別電性連接至第二導(dǎo)電柱。當(dāng)使用者將待測(cè)的金屬殼體置放于主體上時(shí)，金屬殼體的多個(gè)開(kāi)孔會(huì)分別對(duì)位于第二導(dǎo)電柱。在鉚接有鉚件的開(kāi)孔處，對(duì)應(yīng)的第二導(dǎo)電柱會(huì)接觸鉚件而使對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件通過(guò)第一導(dǎo)電柱、金屬殼體、鉚件及第二導(dǎo)電柱被導(dǎo)通而發(fā)光。在漏鉚的開(kāi)孔處，對(duì)應(yīng)的第二導(dǎo)電柱不與金屬殼體接觸而使對(duì)應(yīng)的發(fā)光元件無(wú)法被導(dǎo)通。藉此，使用者可通過(guò)觀察各發(fā)光元件的發(fā)光與否來(lái)判斷金屬殼體在各開(kāi)孔處是否有漏鉚的情況發(fā)生，以提升檢測(cè)的準(zhǔn)確率并節(jié)省檢測(cè)時(shí)間。

為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì)說(shuō)明如下。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的鉚件檢測(cè)裝置的立體圖。

圖2為適于被圖1的鉚件檢測(cè)裝置所檢測(cè)的金屬殼體的立體圖。

圖3A及圖3B為圖2的金屬殼體置放于圖1的主體上的局部側(cè)視示意圖。

圖4為圖2的金屬殼體置放于圖1的主體上的前視示意圖。

附圖標(biāo)記：

100：鉚件檢測(cè)裝置

110：主體

112：表面

120：第一導(dǎo)電柱

130：第二導(dǎo)電柱

140：發(fā)光元件

150：板體

160：限位件

200：金屬殼體

210：開(kāi)孔

220：鉚件

222：螺孔

具體實(shí)施方式

圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的鉚件檢測(cè)裝置的立體圖。圖2為適于被圖1的鉚件檢測(cè)裝置所檢測(cè)的金屬殼體的立體圖。請(qǐng)參考圖1及圖2，本實(shí)施例的鉚件檢測(cè)裝置100適于對(duì)金屬殼體200進(jìn)行檢測(cè)。金屬殼體200具有多個(gè)開(kāi)孔210，且多個(gè)鉚件220分別鉚接于至少部分開(kāi)孔210(顯示為其中一個(gè)開(kāi)孔210處漏鉚)。鉚件檢測(cè)裝置100包括主體110、至少一第一導(dǎo)電柱120(顯示為六個(gè))、多個(gè)第二導(dǎo)電柱130及多個(gè)發(fā)光元件140。主體110具有表面112，第一導(dǎo)電柱120及第二導(dǎo)電柱130固定于表面112上。發(fā)光元件140例如為發(fā)光二極管光源且電性連接于第一導(dǎo)電柱120，并分別電性連接于第二導(dǎo)電柱130。