[發(fā)明專利]光學(xué)測量系統(tǒng)及其裝置

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201110169191.0
• 申請(qǐng)日: 2011-06-17
• 公開（公告）號(hào): CN102829859A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 鄭勗廷;曾一士;王遵義
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 致茂電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G01J1/00
• 分類號(hào): G01J1/00;G01J1/04;G01M11/02
• 代理公司: 隆天國際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003
• 代理人: 趙根喜;馮志云

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光學(xué)測量系統(tǒng)，更明確的說，是一種可同時(shí)檢測一待測物的全光通量以及軸向光線的光學(xué)特性的光學(xué)測量系統(tǒng)。

背景技術(shù)

目前發(fā)光二極管(LED)點(diǎn)測機(jī)在測量各個(gè)待測物時(shí)，均須使用積分球或大面積的光傳感器來測量所有角度的光能量，以得出如全光通量、色溫、色座標(biāo)、演色系數(shù)或頻譜等光學(xué)特性。隨著待測物的產(chǎn)能提高，待測物的檢測需求也隨之增加。

然而，在使用積分球時(shí)，其體積與邊緣角度因經(jīng)過多次反射，會(huì)造成光線的能量損失。理論上，每個(gè)積分球每次只能對(duì)一顆待測物進(jìn)行測試。故此，為克服上述的各個(gè)問題，業(yè)界目前傾向于利用大面積的光傳感器來對(duì)待測物進(jìn)行光學(xué)檢測。

在利用大面積的光傳感器來測量待測物光學(xué)特性時(shí)，大多是通過在大面積光傳感器的中心開洞或?qū)⒂蓚鞲衅鞯膫?cè)向位置進(jìn)行收光，借以取得待測物的光學(xué)特性。然而，以上兩種公知方法會(huì)分別的造成能量損失與波長重復(fù)性不佳的問題。

有鑒于現(xiàn)有技術(shù)中存在上述的缺陷，因此如何研發(fā)出一種既便宜、效率高且可克服能量損失與波長重復(fù)性不佳的光學(xué)測量系統(tǒng)，實(shí)為本領(lǐng)域再加以思索并為突破的目標(biāo)及方向。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于現(xiàn)有技術(shù)中存在的問題，本發(fā)明的一目的在于提供一種光學(xué)測量系統(tǒng)，可同時(shí)檢測一待測物的全光通量以及軸向光線的光學(xué)特性的光學(xué)測量系統(tǒng)。

本發(fā)明提供一種光學(xué)測量系統(tǒng)，該光學(xué)測量系統(tǒng)包含一待測物、一光檢測模塊、一導(dǎo)光模塊以及一分析模塊。該待測物用于接受一電能以產(chǎn)生一第一光線以及一第二光線。該光檢測模塊，用于接收該第二光線以測量該第二光線的強(qiáng)度。該導(dǎo)光模塊設(shè)置于該待測物以及該光檢測模塊之間，該導(dǎo)光模塊用于傳輸并改變?cè)摰谝还饩€的行進(jìn)方向，該導(dǎo)光模塊包含一光輸入端、一光輸出端以及一導(dǎo)引部。該光輸入端形成于該導(dǎo)光模塊的末端，用于反射并改變?cè)摰谝还饩€的行進(jìn)方向。該光輸出端形成于該導(dǎo)光模塊相對(duì)于該光輸入端的另一末端，用于改變?cè)摰谝还饩€的行進(jìn)方向并輸出該第一光線。該導(dǎo)引部形成于該光輸入端以及該光輸出端之間，該導(dǎo)引部用于自該光輸入端傳輸該第一光線予該光輸出端。該分析模塊用于自該導(dǎo)光模塊接收該第一光線以測量該第一光線的光學(xué)特性。

本發(fā)明另提供一種光學(xué)測量裝置，該光學(xué)測量系統(tǒng)包含一承載座、一光檢測模塊、一導(dǎo)光模塊以及一分析模塊。該承載座用于安裝一待測物。該光檢測模塊具有一受光面，該受光面面對(duì)該承載座，該光檢測模塊用于測量該待測物所發(fā)出的一光能的強(qiáng)度。該導(dǎo)光模塊設(shè)置于該待測物以及該光檢測模塊之間，該導(dǎo)光模塊包含一光輸入端以及一光輸出端。該光輸入端相對(duì)應(yīng)于該受光面的中央附近，用于接收該待測物產(chǎn)生的一軸向光線。該光輸出端相對(duì)應(yīng)于該受光面的外側(cè)附近，用于輸出該待測物產(chǎn)生的該軸向光線。該分析模塊用于接收及分析由該導(dǎo)光模塊傳來的該軸向光線。

相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明提出一種便宜、效率高且可克服能量損失與波長重復(fù)性不佳的光學(xué)測量系統(tǒng)。本發(fā)明的引導(dǎo)模塊設(shè)置于待測物以及光檢測模塊之間，同時(shí)引導(dǎo)模塊為透明，以使其在引導(dǎo)軸向光線的同時(shí)，將不會(huì)妨礙到待測物發(fā)射的光線的行進(jìn)方向，從而可準(zhǔn)確且有效的測量待測物所發(fā)出光線的全光通量以及其他光學(xué)特性。

關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以通過以下的發(fā)明詳述及附圖得到進(jìn)一步的了解。

附圖說明

圖1為本發(fā)明的光學(xué)測量系統(tǒng)的示意圖。

圖2為本發(fā)明的光學(xué)測量系統(tǒng)中導(dǎo)光模塊的示意圖。

其中，附圖標(biāo)記說明如下：

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明能更清楚的被說明，請(qǐng)參照以下本發(fā)明詳細(xì)說明及其中所包括的實(shí)例，以更容易地理解本發(fā)明。

本說明書僅對(duì)本發(fā)明的必要元件作出陳述，且僅用于說明本發(fā)明其中的可能的實(shí)施例，然而說明書的記述應(yīng)不局限本發(fā)明所主張的技術(shù)本質(zhì)的權(quán)利范圍。除非于說明書有明確地排除其可能，否則本發(fā)明并不局限于特定方法、流程、功能或手段。也應(yīng)了解的是，目前所述僅為本發(fā)明可能的實(shí)施例，在本發(fā)明的實(shí)施或測試中，可使用與本說明書所述裝置或系統(tǒng)相類似或等效的任何方法、流程、功能或手段。

除非有另外定義，否則本說明書所用的所有技術(shù)及科學(xué)術(shù)語，皆具有與所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常所了解的意義相同的意義。本說明書目前所述者僅為實(shí)例方法、流程及其相關(guān)數(shù)據(jù)。然而在本發(fā)明的實(shí)際使用時(shí)，其可使用與本說明書所述方法及材料相類似或等效的任何方法及手段。