[發明專利]光學測量系統及其裝置

無效

• 申請號: 201110169191.0
• 申請日: 2011-06-17
• 公開（公告）號: CN102829859A
• 公開（公告）日: 2012-12-19
• 發明（設計）人: 鄭勗廷;曾一士;王遵義
• 申請（專利權）人: 致茂電子股份有限公司
• 主分類號: G01J1/00
• 分類號: G01J1/00;G01J1/04;G01M11/02
• 代理公司: 隆天國際知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 趙根喜;馮志云

1.一種光學測量系統，包含：

一待測物，用于接受一電能以產生一第一光線以及一第二光線；

一光檢測模塊，用于接收該第二光線以測量該第二光線的強度；

一導光模塊，設置于該待測物以及該光檢測模塊之間，該導光模塊用于傳輸并改變該第一光線的行進方向，該導光模塊包含：

一光輸入端，形成于該導光模塊的末端，用于反射并改變該第一光線的行進方向；

一光輸出端，形成于該導光模塊相對于該光輸入端的另一末端，用于改變該第一光線的行進方向并輸出該第一光線；以及

一導引部，形成于該光輸入端以及該光輸出端之間，該導引部用于自該光輸入端傳輸該第一光線予該光輸出端；以及

一分析模塊，用于自該導光模塊接收該第一光線以測量該第一光線的光學特性。

2.如權利要求1的光學測量系統，其特征在于，該光學測量系統進一步包含一承載座，用于安裝該待測物。

3.如權利要求1的光學測量系統，其特征在于，該光檢測模塊為為一太陽能電池。

4.如權利要求1的光學測量系統，其特征在于，該分析模塊為一光譜儀。

5.如權利要求1的光學測量系統，其特征在于，該光輸入端進一步具有一反射結構，用于反射該第一光線以改變該第一光線的行進方向。

6.如權利要求1的光學測量系統，其特征在于，該光輸出端進一步具有一折射結構，用于折射該第一光線以改變該第一光線的行進方向。

7.一種光學測量裝置，包含：

一承載座，用于安裝一待測物；

一光檢測模塊，具有一受光面，該受光面面對該承載座，該光檢測模塊用于測量該待測物所發出的一光能的強度；

一導光模塊，設置于該承載座以及該光檢測模塊之間，包含：

一光輸入端，相對應于該受光面的中央附近，用于接收該待測物產生的一軸向光線；以及

一光輸出端，相對應于該受光面的外側附近，用于輸出該待測物產生的該軸向光線；以及

一分析模塊，用于接收及分析由該導光模塊傳來的該軸向光線。

8.如權利要求7的光學測量裝置，其特征在于，該光檢測模塊為一太陽能電池。

9.如權利要求7的光學測量裝置，其特征在于，該分析模塊為一光譜儀。