[發(fā)明專利]具備定位功能的原位測試采集儀及其定位方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110153350.8
• 申請日: 2011-06-09
• 公開（公告）號: CN102296582A
• 公開（公告）日: 2011-12-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐敏生;沈日庚;殷立宏
• 申請（專利權(quán)）人: 上海市城市建設(shè)設(shè)計(jì)研究院
• 主分類號: E02D1/02
• 分類號: E02D1/02;G01S19/42
• 代理公司: 上海旭誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31220
• 代理人: 王萍萍

1.一種具備定位功能的原位測試采集儀，包括AD轉(zhuǎn)換單元、GPS模塊、顯示屏和單片機(jī)處理芯片；所述AD轉(zhuǎn)換單元用于接收模擬信號并將所述模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，然后將所述數(shù)字信號傳送給所述單片機(jī)處理芯片，所述模擬信號包括原位測試探頭傳感器采集到的貫入阻力數(shù)據(jù)及其對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)；所述GPS模塊用于自動收集衛(wèi)星信號、采集勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)并將所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)傳送到所述單片機(jī)處理芯片；所述單片機(jī)處理芯片用于處理外業(yè)測試數(shù)據(jù)，其中所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)包括所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)、所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)和采集信息數(shù)據(jù)，所述采集信息數(shù)據(jù)包括工程名稱、工程編號、勘探孔孔號和設(shè)計(jì)孔深；所述顯示屏與所述單片機(jī)處理芯片相連接，用于顯示所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過的外業(yè)測試數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為多通道AD轉(zhuǎn)換單元。

3.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。

4.如權(quán)利要求3所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏還用于顯示所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后形成的數(shù)據(jù)曲線。

5.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述原位測試采集儀還包括數(shù)據(jù)儲存卡，所述數(shù)據(jù)儲存卡與所述單片機(jī)處理芯片相連接，用于儲存所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理后的外業(yè)測試數(shù)據(jù)。

6.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述原位測試采集儀整機(jī)采用3.3V電壓設(shè)計(jì)。

7.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述單片機(jī)處理芯片為8位低功耗高速單片機(jī)。

8.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述AD轉(zhuǎn)換單元為美國ADI公司的可編程放大倍數(shù)高精度測量24位AD轉(zhuǎn)換專用集成芯片。

9.如權(quán)利要求1所述的具備定位功能的原位測試采集儀，其中，所述GPS模塊為RFIII處理芯片的ARM7內(nèi)核模塊。

10.一種原位測試采集儀的定位方法，包括如下步驟：

啟動原位測試采集儀，并輸入采集信息，同時(shí)所述原位測試采集儀中的內(nèi)置GPS模塊自動收集衛(wèi)星信號、采集勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)并將所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)傳送到單片機(jī)處理芯片，所述采集信息包括工程名稱、工程編號、勘探孔孔號和設(shè)計(jì)孔深；

進(jìn)行原位測試工作：由原位測試探頭傳感器每深入巖土Xcm采集一次貫入阻力數(shù)據(jù)，同時(shí)記錄對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)，并將所采集的所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)以模擬信號的方式傳送到AD轉(zhuǎn)換單元中，所述X值根據(jù)不同工程而設(shè)定，其范圍為8≤X≤12；

所述AD轉(zhuǎn)換單元將所述模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號，并將所述數(shù)字信號傳送至所述單片機(jī)處理芯片進(jìn)行處理；

外業(yè)測試數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后，在所述原位測試采集儀自帶的顯示屏上顯示，所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)包括所述勘探孔的地理坐標(biāo)數(shù)據(jù)、所述貫入阻力數(shù)據(jù)以及對應(yīng)的巖土深度數(shù)據(jù)和所述采集信息；

將所述經(jīng)單片機(jī)處理芯片處理過的外業(yè)測試數(shù)據(jù)傳輸并儲存到客戶電腦。

11.如權(quán)利要求10所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，所述AD轉(zhuǎn)換單元采用多通道AD轉(zhuǎn)換單元。

12.如權(quán)利要求10所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，所述顯示屏為觸摸式點(diǎn)陣顯示屏。

13.如權(quán)利要求10所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，所述原位測試探頭傳感器每深入巖土10cm采集一次貫入阻力數(shù)據(jù)。

14.如權(quán)利要求10所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后，存儲于所述原位測試采集儀自帶的數(shù)據(jù)儲存卡。

15.如權(quán)利要求12所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，所述外業(yè)測試數(shù)據(jù)經(jīng)所述單片機(jī)處理芯片處理后形成數(shù)據(jù)曲線，所述數(shù)據(jù)曲線在所述觸摸式點(diǎn)陣顯示屏上顯示。

16.如權(quán)利要求15所述的原位測試采集儀的定位方法，其中，將所述數(shù)據(jù)曲線傳輸?shù)剿隹蛻綦娔X。