[發明專利]多點觸碰偵測方法及其裝置

無效

• 申請號: 201110151770.2
• 申請日: 2011-05-30
• 公開（公告）號: CN102810031A
• 公開（公告）日: 2012-12-05
• 發明（設計）人: 林招慶;祝林;黃柏勛
• 申請（專利權）人: 升達科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

技術領域

本發明涉及一種觸碰偵測方法及其裝置，特別是涉及一種多點觸碰偵測方法及其裝置。

背景技術

隨著大面積多點觸控功能產品的出現，電容式觸控技術扮演著舉足輕重的角色。

傳統電容式觸控面板主要以自感式或互感式電容量測方法來偵測多點觸碰，其中自感式多點觸碰偵測如圖1所示，主要是一控制器(圖未示)借由對觸控板10上的X方向電極列X1-X4充放電，及對Y方向電極列Y1-Y7充放電，來量測X方向電極列X1-X4及Y方向電極列Y1-Y7上的電容變化，以偵測觸控板10被碰觸的位置。假設兩根手指同時觸碰觸控板10時，由于手指的位置是分別位于電極列X2、X4及電極列Y3、Y5上方，因此控制器(圖未示)會感測到電極列X2、X4及Y3、Y5上的電容變化，而判定觸碰位置發生在電極列X2、X4及Y3、Y5的交錯點上，但由于電極列X2、X4及Y3、Y5的交錯點有四個(X2、Y3)、(X2、Y5)、(X4、Y3)及(X4、Y5)，控制器無法準確判斷實際碰觸的兩點是(X2，Y3)、(X4，Y5)這兩點，還是(X2，Y5)、(X4，Y3)這兩點(業界稱之為鬼點(Ghost?Points))，容易有誤判鬼點(Ghost?Points)為實際觸碰點的情況發生，而必需再通過后端復雜的數學運算來判斷實際觸碰位置。

因此，為解決上述問題，另一種互感式多點觸碰偵測方式如圖2所示，控制器借由依序對每一X方向電極列X1-X4發送電信號，并依序在該等Y方向電極列Y1-Y7進行量測，借由量測X方向電極列的電極與Y方向電極列的電極之間在無碰觸與有碰觸時的電容變化，可正確偵測多點碰觸的位置。然而此種偵測方式的掃描次數多，以圖2為例，需要掃描28次(4次(X方向)*7次(Y方向))才能偵測完全部的電極，但圖1的自感式偵測只需掃描11次(4次(X方向充放電)+7次(Y方向充放電))；此外此種偵測方式的充放電次數多，增加功率消耗，且X方向電極與Y方向電極之間的電容變化量小，容易因外來噪聲干擾而發生誤判。

由此可見，上述現有的電容式觸控面板在方法、產品結構及使用上，顯然仍存在有不便與缺陷，而亟待加以進一步改進。因此如何能創設一種新的多點觸碰偵測方法及其裝置，實屬當前重要研發課題之一，亦成為當前業界極需改進的目標。

發明內容

本發明的目的在于，克服現有的電容式觸控面板存在的缺陷，而提供一種新的多點觸碰偵測方法及其裝置，所要解決的技術問題是使其在于提供一種結合自感式與互感式電容量測優點，以減少掃描次數及功率消耗，并正確判斷觸碰位置的多點觸碰偵測方法及其裝置，非常適于實用。

本發明的目的及解決其技術問題是采用以下技術方案來實現的。依據本發明提出的一種多點觸碰偵測方法，應用于一觸控板，該觸控板包含一基板，多個沿一第一方向布設于該基板的表面的第一電極列，及多個沿與該第一方向概呈垂直的第二方向布設于該基板的表面，并與該等第一電極列相錯開的第二電極列，且各該第一電極列包含多個相串聯的第一電極，各該第二電極列包含多個相串聯的第二電極，其中：該多點觸碰偵測方法包括：(A)提供一第一電信號給各該第一電極列，并偵測該等第一電極列及該等第二電極列的電容變化，再提供一第二電信號給各該第二電極列，并偵測該等第一電極列及該等第二電極列的電容變化，以根據該等第一電極列和該等第二電極列的電容變化，決定候選的第一電極列及第二電極列；及(B)提供一第三電信號給各該候選的第一電極列，并至少偵測各該候選的第一電極列與各該候選的第二電極列之間的電容變化，以根據至少各該候選的第一電極列與各該候選的第二電極列之間的電容變化，判定該觸控板上多點觸碰的位置。

本發明的目的及解決其技術問題還可采用以下技術措施進一步實現。

前述的多點觸碰偵測方法，其中所述的在步驟(A)中，當提供該第一電信號對各該第一電極列充放電時，該等第二電極列被接地，以偵測該等第一電極列的電容變化，而當提供該第二電信號對各該第二電極列充放電時，該等第一電極列被接地，以偵測該等第二電極列的電容變化。

前述的多點觸碰偵測方法，其中所述的在步驟(B)中，是依序提供該第三電信號給各該候選的第一電極列，并依序對各該候選的第二電極列量測一第四電信號，以偵測各該候選的第一電極列與各該候選的第二電極列之間的電容變化。

前述的多點觸碰偵測方法，其中所述的在步驟(B)中，是依序提供該第三電信號給各該候選的第一電極列，并同時對該等候選的第二電極列量測一第四電信號，以偵測各該候選的第一電極列與各該候選的第二電極列之間的電容變化。