[發(fā)明專利]以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位方法及其裝置

有效

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• 申請日: 2011-05-19
• 公開（公告）號: CN102768013A
• 公開（公告）日: 2012-11-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 姚福來
• 申請（專利權(quán)）人: 姚福來
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01R35/00
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明提供一種以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位方法，特別涉及利用多影像感測器校對探針與檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置，本發(fā)明也涉及實施所述方法的對位裝置。

背景技術(shù)

構(gòu)成液晶顯示器(LCD)或觸控板(Touch?Panel)的玻璃基板的表面都設(shè)有電路圖形結(jié)構(gòu)，該電路圖形結(jié)構(gòu)具有多延伸至基板邊緣的外接線路，且電路圖形結(jié)構(gòu)是利用所述外接線路與外界的控制或驅(qū)動等電路相互連接；此外，該玻璃基板于電路圖形結(jié)構(gòu)形成后，需經(jīng)由所述外接線路上的檢測點(diǎn)對電路圖形結(jié)構(gòu)進(jìn)行電阻值和電容值等的量測，以判斷基板的電路圖形結(jié)構(gòu)的良劣。

且知，用于量測上述基板的電路圖形結(jié)構(gòu)的檢測設(shè)備，通常配備有相互連動的檢測模具及影像感測器，舉如影像CCD(Charge?Coupled?Device)感測器，且檢測模具底部具有多量測用探針；該檢測模具及影像感測器都能夠于檢測設(shè)備的檢測臺上沿縱向、橫向及垂向位移，而使影像感測器由上而下感測檢測臺上的基板表面影像，以校正基板上的靶點(diǎn)或檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置，并驅(qū)使檢測模具依據(jù)該靶點(diǎn)或檢測點(diǎn)位置而對準(zhǔn)基板，且令所述探針隨檢測模具由上而下壓觸基板檢測點(diǎn)，以量測基板的電路圖形結(jié)構(gòu)。

然而，上述影像感測器雖然能夠校正基板的基準(zhǔn)位置，但由于上述檢測模具是依據(jù)基板的型號而時常替換，因此所述探針的基準(zhǔn)位置與檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置之間，存在著容易產(chǎn)生誤差的隱憂，亟需加以改善。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的一目的在于提供一種以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位方法，能分別利用影像感測器校對基板與探針的基準(zhǔn)位置，以克服上述現(xiàn)有技術(shù)中，所述探針的基準(zhǔn)位置與檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置之間容易產(chǎn)生誤差的問題。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位裝置，有利于促使基板與探針接受影像感測器校對基準(zhǔn)位置。

為實現(xiàn)上述目的并解決問題，本發(fā)明提供了一種以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位方法，包含：

于一檢測臺上提供一能夠擺放待測基板的承放盤，該基板上具有多線路的檢測點(diǎn)；

使用該檢測臺上的一上影像感測器，于該承放盤上方感測該基板，并經(jīng)由調(diào)動該承放盤以校正該基板的檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置；及

使用該檢測臺上的一位置低于該上影像感測器的下影像感測器，于一跟隨該上影像感測器移動的檢測模具下方，感測該模具底部的多探針，并經(jīng)由調(diào)動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置。

據(jù)此，能夠克服上述現(xiàn)有技術(shù)中，所述探針的基準(zhǔn)位置與檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置之間容易產(chǎn)生誤差的問題，進(jìn)而提升基板上電路圖形結(jié)構(gòu)的量測準(zhǔn)確度。

在一具體的實施上，該承放盤能夠以自轉(zhuǎn)的方式調(diào)動，該上影像感測器能沿著一以上軸向位移至承放盤上方，且下影像感測器固設(shè)于檢測臺上，該模具跟隨上影像感測器移動至下影像感測器上方。

在另一具體的實施上，該下影像感測器也能沿著一以上軸向位移至模具下方。

除此之外，本發(fā)明提供了一種以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位裝置，包含：

一檢測臺；

一承放盤，樞置于該檢測臺上，該承放盤上擺放一待測基板，該基板上具有多線路的檢測點(diǎn)；

一上影像感測器，配置于該檢測臺上，能夠于該承放盤上方感測該基板，并經(jīng)由調(diào)動該承放盤以校正該基板的檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置；

一檢測模具，連結(jié)該上影像感測器，而能夠跟隨該上影像感測器移動，該模具底部具有多探針；及

一下影像感測器，配置于該檢測臺上低于該上影像感測器的位置，能夠于該模具下方感測所述探針，并經(jīng)由調(diào)動該承放盤或該模具，以校對所述探針與該檢測點(diǎn)的基準(zhǔn)位置。

據(jù)此，有利于促使基板與探針接受影像感測器校對基準(zhǔn)位置。

實際上，該檢測臺上具有一連結(jié)承放盤的第一驅(qū)動器，能驅(qū)動承放盤以自轉(zhuǎn)的方式調(diào)動；該檢測臺上具有一連結(jié)上影像感測器的第二驅(qū)動器，能驅(qū)動上影像感測器沿著一以上軸向位移至承放盤上方；該下影像感測器固設(shè)于檢測臺上，該模具跟隨上影像感測器移動至下影像感測器上方。

或者，該檢測臺上具有一連結(jié)下影像感測器的第三驅(qū)動器，也能驅(qū)動下影像感測器沿著一以上軸向位移至模具下方。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明所述的以探針壓觸基板線路檢測點(diǎn)的對位方法及其裝置，能分別利用影像感測器校對基板與探針的基準(zhǔn)位置。

然而，為能明確且充分揭露本發(fā)明，并予列舉較佳實施的圖例，以詳細(xì)說明其實施方式如后述：

附圖說明

圖1是本發(fā)明第一款實施例的流程圖；

圖2是本發(fā)明第二款實施例的俯視圖；