[發明專利]一種集成電路測試分選機的分粒結構

有效

• 申請號: 201110111304.1
• 申請日: 2011-04-28
• 公開（公告）號: CN102259099A
• 公開（公告）日: 2011-11-30
• 發明（設計）人: 韓笑
• 申請（專利權）人: 杭州長川科技有限公司
• 主分類號: B07C5/36
• 分類號: B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種集成電路測試分選機的分粒機構，它至少包括有一個電路流道、一個氣缸缸體，作用于所述電路流道和氣缸的前擋桿和后擋桿，所述的前擋桿連接L型連接件，所述L型連接件通過螺絲固定在氣缸軸上，所述的氣缸軸設置于氣缸缸體內部；所述的前擋桿和后擋桿上設置有前支座和后支座，所述的前擋桿和后擋桿之間設置有光軸和光軸槽；所述前擋桿上設置有螺紋孔，通過該螺紋孔用螺絲將分粒壓塊固定在前擋桿上。

2.根據權利要求1所述的集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于所述的粒壓塊下部設置有斜貫通孔，該斜貫通孔內設置有橡膠條。

3.根據權利要求1所述的集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于所述的前擋桿通過擋桿銷固定在前支座上。

4.根據權利要求1所述的集成電路測試分選機的分粒機構，其特征在于所述的后擋桿通過擋桿銷固定在后支座上。