[發明專利]數據輸入輸出控制裝置及半導體存儲裝置系統有效
申請號: | 201110108511.1 | 申請日: | 2011-04-28 |
公開(公告)號: | CN102289394A | 公開(公告)日: | 2011-12-21 |
發明(設計)人: | 竹內健;田中丸周平 | 申請(專利權)人: | 國立大學法人東京大學 |
主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 劉瑞東;段承恩 |
地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 數據 輸入輸出 控制 裝置 半導體 存儲 系統 | ||
1.一種數據輸入輸出控制裝置,將從主機裝置輸入的數據編碼為規定糾錯碼并在非易失性的半導體存儲裝置存儲,并且輸入在上述半導體存儲裝置存儲的數據,用上述規定糾錯碼對該輸入數據糾錯并解碼,向上述主機裝置輸出,其特征在于,具備:
數據糾正輸入輸出電路,其具備:糾錯信息存儲部,其存儲編碼為上述規定糾錯碼的數據的長度即執行用數據長度以及上述規定糾錯碼的長度即執行用碼長;編碼部,其按上述存儲的執行用數據長度依次讀入輸入的數據,將該讀入數據編碼為上述執行用碼長的上述規定糾錯碼,向上述半導體存儲裝置輸出;解碼部,其按上述存儲的執行用碼長依次讀入輸入的數據,通過上述規定糾錯碼對該讀入數據糾錯并解碼,向上述主機裝置輸出;錯誤檢測部,其按上述存儲的執行用碼長依次讀入輸入的數據,通過上述規定糾錯碼對該讀入的n個(n是1以上的整數)數據,檢測上述讀入數據中發生錯誤的數據數即錯誤數據數;和存儲處理部,其在上述檢測的錯誤數據數超過預定的上限錯誤數時,將可糾正及檢測比由1個上述執行用碼長的規定糾錯碼可糾正及檢測的錯誤數的上限多的錯誤且數據的長度比上述糾錯信息存儲部存儲的執行用數據長度長的數據的長度以及上述規定糾錯碼的碼長,分別作為上述執行用數據長度以及上述執行用碼長在上述糾錯信息存儲部存儲;和
控制電路,其在從上述主機裝置輸入請求向上述半導體存儲裝置進行數據寫入的寫入請求信號時,控制上述數據糾正輸入輸出電路和上述半導體存儲裝置,使得從上述主機裝置輸入的數據輸入上述數據糾正輸入輸出電路的編碼部,從上述數據糾正輸入輸出電路的編碼部輸出的數據向上述半導體存儲裝置輸出并且該輸出的數據在上述半導體存儲裝置存儲,在從上述主機裝置輸入請求將上述半導體存儲裝置存儲的數據讀出的讀出請求信號時,控制上述數據糾正輸入輸出電路和上述半導體存儲裝置,使得上述半導體存儲裝置存儲的數據被讀出,該讀出的數據輸入上述數據糾正輸入輸出電路的解碼部,從該數據糾正輸入輸出電路的解碼部輸出的數據向上述主機裝置輸出,在從上述主機裝置輸入請求刪除上述半導體存儲裝置存儲的數據的刪除請求信號時,控制上述數據糾正輸入輸出電路和上述半導體存儲裝置,使得上述半導體存儲裝置存儲的數據被讀出,該讀出的數據輸入上述數據糾正輸入輸出電路的錯誤檢測部后,將上述半導體存儲裝置存儲的數據刪除。
2.如權利要求1所述的數據輸入輸出控制裝置,其特征在于,
上述數據糾正輸入輸出電路的存儲處理部,在上述檢測的錯誤數超過上述上限錯誤數時,將上述存儲的執行用數據長度的m倍(m是2以上的整數)的數據長度作為上述執行用數據長度,在上述糾錯信息存儲部存儲。
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