[發明專利]觸控面板及其多點檢測方法

有效

• 申請號: 201110072125.1
• 申請日: 2011-03-15
• 公開（公告）號: CN102681711A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發明（設計）人: 黃俊龍;鄭建勇;陳柏仰;施博盛
• 申請（專利權）人: 群康科技(深圳)有限公司;奇美電子股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 駱希聰

技術領域

本發明是有關于一種觸控面板及其檢測方法，且特別是有關于一種觸控面板及其多點檢測方法。

背景技術

隨著科技不斷的進步，各式電子裝置不斷推陳出新，其中電子裝置的輸入方式也不斷的有創新技術出現。舉例來說，觸控面板即是一項重大突破的技術。透過觸控面板，使用者可直接以觸控筆或手指在觸控面板上點選元件、寫字或畫圖，而不需要鍵盤或鼠標。直覺式的輸入方式，改變了電子裝置的發展模式。

在觸控面板發展的過程中，觸控點的判斷精準度及單點、多點觸控判斷的正確性是觸控面板發展的關鍵因素。有鑒于此，目前業界無不致力于發展各種技術來提高觸控點的判斷精準度以及單、多點觸控判斷的正確性。

發明內容

本發明是有關于一種觸控面板及其多點檢測方法，其利用判斷與分析步驟來分辨觸控面板被觸控的情況，以提高觸控面板在單點及多點檢測上的精準度。

根據本發明的一方面，提出一種觸控面板的多點檢測方法。觸控面板包括具有阻抗異向性的一導電層和數個感測接墊。其中導電層的一第一軸向的阻抗值低于導電層的一第二軸向的阻抗值。此些感測接墊分布于導電層沿第二軸向的相對兩側邊以在該觸控面板形成數個感測區域。多點檢測方法包括以下步驟。沿一第二軸向測量觸控面板的一感測曲線。感測曲線的一最大感測值位于此些感測區域的一第一感測區域。此些感測區域的一第二感測區域及一第三感測區域分別相鄰于第一感測區域的兩側，感測曲線于第二感測區域的一第一平均感測值大于第三感測區域的一第二平均感測值。分析第一感測區域的一第一觸控點坐標。分析第二感測區域的一第二觸控點坐標。分析第一觸控點坐標及第二觸控點坐標的一相對距離。若相對距離小于一預定距離，則定義觸控面板在第一觸控點坐標被觸控，或定義觸控面板在第一觸控點坐標與第二觸控點坐標的一中點被觸控。若相對距離大于或等于預定距離，則定義觸控面板在第一觸控點坐標及第二控點坐標同時被觸控。

根據本發明的另一方面，提出一種觸控面板。觸控面板包括一導電層、數個感測元件、一測量單元、一分析單元及一定義單元。導電層具有阻抗異向性。導電層的一第一軸向的阻抗值低于導電膜的一第二軸向的阻抗值。此些感測接墊分布于導電層沿第二軸向的相對兩側邊以在觸控面板形成數個感測區域。測量單元用以沿一第二軸向測量觸控面板的一感測曲線。感測曲線的一最大感測值位于此些感測區域的一第一感測區域。此些感測區域的一第二感測區域及一第三感測區域分別相鄰于第一感測區域的兩側。感測曲線于第二感測區域的一第一平均感測值大于第三感測區域的一第二平均感測值。分析單元用以分析第一感測區域的一第一觸控點坐標及第二感測區域的一第二觸控點坐標，并分析第一觸控點坐標及第二觸控點坐標的一相對距離。若相對距離小于一預定距離，則定義單元定義觸控面板在第一觸控點坐標被觸控，或定義觸控面板在第一觸控點坐標與第二觸控點坐標的一中點被觸控。若相對距離大于或等于預定距離，則定義單元定義觸控面板在第一觸控點坐標及第二控點坐標同時被觸控。

附圖說明

為讓本發明的上述目的、特征和優點能更明顯易懂，以下結合附圖對本發明的具體實施方式作詳細說明，其中：

圖1繪示第一實施例的一觸控面板的示意圖。

圖2繪示觸控面板被兩個手指接觸的示意圖。

圖3繪示觸控面板被兩個手指接觸的另一示意圖。

圖4繪示本實施例多點檢測方法的流程圖。

圖5A～5D繪示圖4的各步驟的示意圖。

圖6繪示第二實施例的觸控面板的示意圖。

圖7繪示第三實施例的觸控面板的示意圖。

主要元件符號說明：

100、200、300：觸控面板

110、210、310：導電層

111：納米碳管

120：測量單元

130：分析單元

140：定義單元

150：感測接墊

211、311：感測元件

D1：第一軸向

D12：相對距離

D2：第二軸向

A0：感測區域

A1：第一感測區域

A2：第二感測區域

A3：第三感測區域

C1、C2、C3、C4：感測曲線

M：中點

P1：第一觸控點坐標

P2：第二觸控點坐標

S101～S107：流程步驟

Vmax：最大感測值

具體實施方式