[發(fā)明專利]觸控面板及其多點(diǎn)檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110072125.1 | 申請日: | 2011-03-15 |
| 公開(公告)號: | CN102681711A | 公開(公告)日: | 2012-09-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃俊龍;鄭建勇;陳柏仰;施博盛 | 申請(專利權(quán))人: | 群康科技(深圳)有限公司;奇美電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/041 | 分類號: | G06F3/041 |
| 代理公司: | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人: | 駱希聰 |
| 地址: | 518100 廣東省深圳市寶*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 面板 及其 多點(diǎn) 檢測 方法 | ||
1.一種觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,該觸控面板包括具有阻抗異向性的一導(dǎo)電層和多個感測接墊,其中該導(dǎo)電層的一第一軸向的阻抗值低于該導(dǎo)電層的一第二軸向的阻抗值,該些感測接墊分布于該導(dǎo)電層沿該第二軸向的相對兩側(cè)邊以在該觸控面板形成多個感測區(qū)域,該多點(diǎn)檢測方法包括:
沿一第二軸向測量該觸控面板的一感測曲線,該感測曲線的一最大感測值位于該些感測區(qū)域的一第一感測區(qū)域,該些感測區(qū)域的一第二感測區(qū)域及一第三感測區(qū)域分別相鄰于該第一感測區(qū)域的兩側(cè),該感測曲線于該第二感測區(qū)域的一第一平均感測值大于該第三感測區(qū)域的一第二平均感測值;
分析該第一感測區(qū)域的一第一觸控點(diǎn)坐標(biāo);
分析該第二感測區(qū)域的一第二觸控點(diǎn)坐標(biāo);
分析該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)的一相對距離;
若該相對距離小于一預(yù)定距離,則定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)被觸控,或定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)與該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)的一中點(diǎn)被觸控;以及
若該相對距離大于或等于該預(yù)定距離,則定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二控點(diǎn)坐標(biāo)同時(shí)被觸控。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,該導(dǎo)電層為一納米碳管膜。
3.如權(quán)利要求2所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,該納米碳管膜包含有多個納米碳管,且該些納米碳管實(shí)質(zhì)上朝該第一軸向排列。
4.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,該導(dǎo)電層包含有多個感測元件,其特征在于,該些感測元件為長條型金屬薄膜、長條型銦錫氧化物或長條型銦鋅氧化物,且實(shí)質(zhì)上朝該第一軸向排列。
5.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,相鄰的該感測區(qū)域部分相互重疊。
6.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,該預(yù)定距離為0.5~1.5厘米。
7.如權(quán)利要求1所述的觸控面板的多點(diǎn)檢測方法,其特征在于,該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)為二維坐標(biāo)。
8.一種觸控面板,該觸控面板包括:
一導(dǎo)電層,具有阻抗異向性,其中該導(dǎo)電層的一第一軸向的阻抗值低于該導(dǎo)電膜的一第二軸向的阻抗值;
多個感測接墊,該些感測接墊分布于該導(dǎo)電層沿該第二軸向的相對兩側(cè)邊以在該觸控面板形成多個感測區(qū)域;
一測量單元,用以沿一第二軸向測量該觸控面板的一感測曲線,該感測曲線的一最大感測值位于該些感測區(qū)域的一第一感測區(qū)域,該些感測區(qū)域的一第二感測區(qū)域及一第三感測區(qū)域分別相鄰于該第一感測區(qū)域的兩側(cè),該感測曲線于該第二感測區(qū)域的一第一平均感測值大于該第三感測區(qū)域的一第二平均感測值;
一分析單元,用以分析該第一感測區(qū)域的一第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二感測區(qū)域的一第二觸控點(diǎn)坐標(biāo),并分析該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)的一相對距離;以及
一定義單元,若該相對距離小于一預(yù)定距離,則該定義單元定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)被觸控,或定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)與該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)的一中點(diǎn)被觸控;若該相對距離大于或等于該預(yù)定距離,則該定義單元定義該觸控面板在該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二控點(diǎn)坐標(biāo)同時(shí)被觸控。
9.如權(quán)利要求8所述的觸控面板,其特征在于,該導(dǎo)電層為一納米碳管膜。
10.如權(quán)利要求9所述的觸控面板,其特征在于,該納米碳管膜包含有多個納米碳管,且該些納米碳管實(shí)質(zhì)上朝該第一軸向排列。
11.如權(quán)利要求8所述的觸控面板,其特征在于,該導(dǎo)電層包含多個感測元件,且該些感測元件為長條型金屬薄膜、長條型銦錫氧化物或長條型銦鋅氧化物,且實(shí)質(zhì)上朝該第一軸向排列。
12.如權(quán)利要求8所述的觸控面板,其特征在于,相鄰的該感測區(qū)域部分相互重疊。
13.如權(quán)利要求8所述的觸控面板,其特征在于,該預(yù)定距離為0.5~1.5厘米。
14.如權(quán)利要求8所述的觸控面板,其特征在于,該第一觸控點(diǎn)坐標(biāo)及該第二觸控點(diǎn)坐標(biāo)為二維坐標(biāo)。
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