[發明專利]一種用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質

無效

• 申請號: 201110062786.6
• 申請日: 2011-03-16
• 公開（公告）號: CN102207470A
• 公開（公告）日: 2011-10-05
• 發明（設計）人: 姜志華;盛克平
• 申請（專利權）人: 上海市計量測試技術研究院
• 主分類號: G01N23/04
• 分類號: G01N23/04
• 代理公司: 上海世貿專利代理有限責任公司 31128
• 代理人: 李浩東

技術領域

本發明涉及計量測試標準量值傳遞技術領域，尤其是涉及一種用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質。

背景技術

20世紀80年代發展起來的計算機斷層攝影系統英文名稱為Computed?Tomography(CT)，主要是利用高能射線對物體的穿透性，來實現對物體內部結構進行無損分析，其可以對物體內部各組成部分的三維長度值，密度等特性進行檢測。隨著計算機斷層攝影系統(CT)逐漸得到廣泛的運用，醫用計算機斷層攝影系統(以下簡稱醫用CT)在醫療檢查中已得到普遍的使用。對于醫用CT系統的檢查者來說，因人體器官具有個性化的特征，只需對人體器官是否產生病變的定性觀察，并不需要對人體器官三維長度值的定量測量。但對于工業計算機斷層攝影系統(以下簡稱工業CT)的被測量物，則需要精確測量各種零部件的三維長度值和位置關系。以便確定各種零部件的加工精度和組裝精度，從而了解各種零部件是否達到了設計要求。因此，對工業CT獲得的三維圖像的放大倍率正確性就顯得至關重要。

目前，工業計算機斷層攝影系統的生產廠商均使用自己研制的標準物質來校準放大倍率，而這些標準物質不具有固定位置的長度測量特性，也不具有良好的導電性，市場上更未見商業應用的用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質。放大倍率的校準一定要具備有證標準物質。有證標準物質的研制將是很迫切的。本發明研制了可用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質。并可以進一步定值，成為有證標準物質。本發明解決該技術問題采用的技術方案是：一種用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的標準物質，它的基板上開有一個沉孔和一個導向孔，沉孔內設置帶有通孔的簿片，簿片的厚度為0.1mm～0.3mm，簿片的材料為金屬鉑合金，通孔的孔徑為0.2mm～0.5mm。本發明所要解決的技術問題還可進一步通過如下技術方案加以解決：沉孔的孔徑為3mm～4mm、導向孔的孔徑為0.5～1.0mm；金屬鉑合金中鉑的重量百分含量為90％～100％；基板的邊長為15mm～50mm，厚度為2mm～5mm，基板采用導電性能優異的不銹鋼。本發明由于采用上述技術方案，采用帶有有證標準物質的掃描電子顯微鏡進行定值，就可以獲得用于校準工業計算機斷層攝影系統放大倍率的有證標準物質，從而解決了工業計算機斷層攝影系統放大倍率缺乏計量校準的問題，可給被校準的工業計算機斷層攝影系統的圖像長度值給出溯源值，并附有給定置信區間的不確定度，使得被校準的工業計算機斷層攝影系統的三維圖像具有可溯源長度值。本發明由于采用具有良好導電性的金屬材料(不銹鋼和金屬鉑合金)，故使其能用掃描電子顯微鏡作有溯源的校準。這將可以改善其校準不確定度，因為掃描電子顯微鏡的分辨率優于光學顯微鏡3個數量級。本發明因有導向孔的存在，可進行固定位置的測量。固定位置的測量傳遞量值不需要多點測量求平均值，可優化測量不確定度。由于金屬鉑合金不但具有良好的導電性，還具有密度高、耐高溫、耐腐蝕的特性，因此用金屬鉑合金制作測量圖形，其本底是空氣，密度差別很大，所以在可見光、電子束、X光、γ射線成像時均具有良好的反差，優化了定值和校準的成像條件，使得本發明的特征長度值具有很好的時間穩定性和環境穩定性，解決了工業計算機斷層攝影系統放大倍率缺乏計量校準的問題。

附圖說明

下面結合附圖和本發明的具體實施例對本發明作進一步詳細描述：

圖1是本發明的結構主視示意圖。

圖2是圖1的的A-A剖視圖。

圖3是本發明的結構示意展開圖。

圖4本發明的掃描電鏡圖像。

圖5有證標準物質掃描電鏡圖像。

圖6是本發明的X射線成像系統的圖像Bar＝100μm。

具體實施方式

參照圖2，本發明的基板1上開有沉孔2和導向孔3，沉孔2內設置帶有通孔4的簿片5。