[發(fā)明專利]光源檢測裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110058159.5
• 申請日: 2011-03-11
• 公開（公告）號: CN102680913A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張超雄;柯志勛;詹勛偉
• 申請（專利權(quán)）人: 展晶科技（深圳）有限公司;榮創(chuàng)能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種光源檢測裝置，特別涉及一種檢測發(fā)光二極管光源的光源檢測裝置。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的發(fā)光二極管光源檢測裝置通常包括測試臺、旋轉(zhuǎn)座以及用于檢測發(fā)光二極管光源的測試針。旋轉(zhuǎn)座連接于測試臺底面，該測試臺的頂面開設(shè)有一個固定形狀的凹槽，用于放置發(fā)光二極管光源。轉(zhuǎn)動旋轉(zhuǎn)座可將測試針從測試臺上表面穿設(shè)而出并與發(fā)光二極管光源的電極接觸，從而進(jìn)行光源檢測。

然而由于測試臺上用于放置發(fā)光二極管光源的凹槽其形狀及尺寸已經(jīng)固定，故該檢測裝置只適用于檢測一定形狀和尺寸的發(fā)光二極管光源。此外由于發(fā)光二極管光源裝設(shè)于凹槽內(nèi)，如果測試臺采用的材料不具備良好的熱傳導(dǎo)性，則發(fā)光二極管光源產(chǎn)生的熱量不易快速消散，從而對測試結(jié)果產(chǎn)生不良影響。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，有必要提供一種能夠檢測多種形狀及尺寸發(fā)光二極管的光源檢測裝置。

一種用于檢測發(fā)光二極管光源的光源檢測裝置，包括基座、升降臺，所述基座上設(shè)有電極，該升降臺上形成有導(dǎo)電區(qū)域，所述升降臺內(nèi)裝設(shè)有測試針，該測試針穿設(shè)于升降臺并與導(dǎo)電區(qū)域連接固定，所述發(fā)光二極管光源包括發(fā)光二極管和電路板，該電路板上設(shè)有電路結(jié)構(gòu)，該發(fā)光二極管裝設(shè)于電路板上并與電路結(jié)構(gòu)形成電性連接，該發(fā)光二極管光源裝設(shè)于升降臺上并與導(dǎo)電區(qū)域電性連接，所述升降臺由彈性元件固定于基座上，通過下壓該升降臺使測試針與基座上的電極接觸形成電性連接。

將發(fā)光二極管光源固定于升降臺上，并利用彈性元件以及外力共同作用改變升降臺的高度，從而控制測試針與基座上的電極的導(dǎo)通與斷開，進(jìn)而對升降臺上裝設(shè)的發(fā)光二極管光源進(jìn)行檢測，并且不對裝設(shè)的發(fā)光二極管光源的形狀和尺寸進(jìn)行過多限制，故該光源檢測裝置可用來檢測多種形狀和尺寸的發(fā)光二極管光源。

下面參照附圖，結(jié)合具體實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步的描述。

附圖說明

圖1為本發(fā)明實(shí)施方式提供的光源檢測裝置的側(cè)視示意圖。

圖2為圖1中的光源檢測裝置的俯視示意圖。

圖3為圖1中的光源檢測裝置裝設(shè)有發(fā)光二極管光源的側(cè)視示意圖。

圖4為圖3中的光源檢測裝置的俯視示意圖。

主要元件符號說明

光源檢測裝置100基座10電極12支撐柱20通孔21第一容置區(qū)211第二容置區(qū)212孔洞213支撐平臺22小孔221升降臺30導(dǎo)電區(qū)域31盲孔32測試針40頂端41底端42彈簧50固定元件60絕緣壓板61內(nèi)圓611外圓612固定器62第一旋轉(zhuǎn)條621第二旋轉(zhuǎn)條622中軸623發(fā)光二極管光源70發(fā)光二極管71電路板72電路結(jié)構(gòu)721