[發(fā)明專利]光源檢測裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201110058159.5
• 申請日: 2011-03-11
• 公開（公告）號: CN102680913A
• 公開（公告）日: 2012-09-19
• 發(fā)明（設計）人: 張超雄;柯志勛;詹勛偉
• 申請（專利權）人: 展晶科技（深圳）有限公司;榮創(chuàng)能源科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/44
• 分類號: G01R31/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用于檢測發(fā)光二極管光源的光源檢測裝置，包括基座、升降臺以及固定元件，所述基座上設有電極，該升降臺上形成有導電區(qū)域，其特征在于：所述升降臺內(nèi)裝設有測試針，該測試針穿設于升降臺并與導電區(qū)域連接固定，所述發(fā)光二極管光源包括發(fā)光二極管和電路板，該電路板上設有電路結構，該發(fā)光二極管裝設于電路板上并與電路結構形成電性連接，該發(fā)光二極管光源裝設于升降臺上并與導電區(qū)域電性連接，所述升降臺由彈性元件支撐于基座上，所述固定元件壓持于電路板上并通過下壓該升降臺使彈性元件壓縮，從而使測試針與基座上的電極接觸形成電性連接。

2.如權利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述導電區(qū)域形成于升降臺遠離基座的上表面，所述電路結構自電路板裝設發(fā)光二極管的上表面延伸至與上表面相對的下表面，所述電路板裝設于升降臺的上表面，所述導電區(qū)域與電路板的電路結構相接觸從而形成電性連接。

3.如權利要求2所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述升降臺上開設有盲孔，該盲孔自升降臺靠近基座的下表面向上開設直至，該導電區(qū)域自該盲孔露出，所述測試針穿設于該盲孔內(nèi)并與導電區(qū)域連接固定。

4.如權利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述光源檢測裝置還包括一個支撐柱裝設于基座上，該支撐柱內(nèi)形成有一個通孔，該通孔的內(nèi)壁向內(nèi)延伸形成一個支撐平臺，該支撐平臺將該通孔分隔為第一容置區(qū)和第二容置區(qū)，該升降臺容置于第一容置區(qū)內(nèi)。

5.如權利要求4所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述支撐平臺上開設有小孔，所述測試針穿設于該小孔中并與升降臺的導電區(qū)域連接。

6.如權利要求5所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述測試針包括頂端和底端，該底端的面積大于頂端的面積。

7.如權利要求6所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述彈性元件為彈簧，該彈簧支撐所述升降臺使升降臺的下表面距支撐平臺的上表面的距離與測試針的底端距基座的電極的距離相等。

8.如權利要求1所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述固定元件包括絕緣壓板和固定器，該絕緣壓板用于壓持電路板以使升降臺下降到測試針與電極接觸的位置，該固定元件用于固定絕緣壓板使該絕緣壓板緊貼于支撐柱的上表面，以使測試針與電極保持接觸。

9.如權利要求8所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述絕緣壓板中部設有孔洞，該孔洞的尺寸小于電路板的尺寸，且大于發(fā)光二極管的尺寸。

10.如權利要求9所述的光源檢測裝置，其特征在于：所述固定器包括第一旋轉(zhuǎn)條、第二旋轉(zhuǎn)條以及將該第一旋轉(zhuǎn)條和第二旋轉(zhuǎn)條樞轉(zhuǎn)連接的中軸，該第一旋轉(zhuǎn)條擋持與絕緣壓板，該第二旋轉(zhuǎn)條固定連接于支撐柱的外壁。