[發明專利]用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置及其使用方法

無效

• 申請號: 201110050929.1
• 申請日: 2011-03-03
• 公開（公告）號: CN102183463A
• 公開（公告）日: 2011-09-14
• 發明（設計）人: 汪懋華;李斌;汪寧
• 申請（專利權）人: 中國農業大學
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本發明涉及光譜測量技術領域，尤其涉及一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置及其使用方法。

背景技術

太赫茲光譜(Terahertz，以下簡稱THz)作為光譜波段中尚未被深入開展應用研究的一個領域，是當前科技界創新技術研究的熱點之一。它的頻率處于0.1THz～10THz(1THz＝10¹²Hz)，在電磁波段中的位置介于紅外和無線電波之間，是一種新的、有很多獨特優點的輻射源。由于缺乏有效的太赫茲產生方法和檢測手段，科學家對太赫茲光譜的性質了解有限。近些年，超快激光技術的迅速發展，為太赫茲脈沖的產生提供了穩定地激發光源，使太赫茲的產生和應用得到了蓬勃發展。太赫茲光譜技術已經在國防安全、通信、生物醫學和化學等方面有了較多的研究和初步的應用。

太赫茲光子能量低，無輻射，可安全有效地進行非接觸式無損探測，在實際中有著廣闊的應用研究潛力和前景。利用太赫茲光譜進行樣品測量時，將測量樣品放在載物臺上，可以進行透射式、反射式等方式測量。在透射測量實驗中，由于所測的樣品一般尺寸較大，太赫茲波無法直接穿透，所以需要對樣品進行前處理：固體樣品需要研磨成粉末狀顆粒(通常情況下，直徑適宜在微米或納米級)，然后做壓片處理；液體樣品要盡量做成較薄的薄層；氣體樣品則要求均勻穩定地通過測量區域。但是，通常情況下，會遇到固體樣品無法做壓片處理，如含有結晶水、粘性較大、具有特殊物理化學性質等；或者液體樣品不易固定成形；或者氣體樣品無法保證均勻穩定通過測量區域的時候，為太赫茲光譜測量的探測帶來了一定的困難。

因此，亟需一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置。

發明內容

本發明提供一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置及其使用方法，用以解決現有技術中當固體樣品無法做壓片處理；或者液體樣品不易固定成形；或者氣體樣品無法保證均勻穩定通過測量區域時，無法對樣品進行太赫茲光譜測量的缺陷。

本發明提供一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置，所述樣品承載裝置為采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的長方體盒體；且所述長方體盒體為包括五個側壁的無頂結構；所述長方體盒體的各側壁厚度為1mm-1.5mm。

本發明還提供一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置的使用方法，包括如下步驟：

清潔樣品承載裝置；所述樣品承載裝置為采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的長方體盒體；且所述長方體盒體為包括五個側壁的無頂結構；所述長方體盒體的各側壁厚度為1mm-1.5mm。

將待測樣品導入所述長方體盒體中，以準備進行太赫茲光譜的測量。

本發明的用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置及其使用方法，所述樣品承載裝置為采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的長方體盒體；且所述長方體盒體為包括五個側壁的無頂結構；所述長方體盒體的各側壁厚度為1mm-1.5mm。使用時，通過清潔承載裝置；并將待測樣品導入所述長方體盒體中，以準備進行太赫茲光譜的測量。采用本發明的技術方案，將待測樣品裝入本發明提供的太赫茲光譜測量的承載裝置中，能夠實現在太赫茲光譜的測量中對固體、液體或者氣體的待測樣品的準確測量，操作簡單、實現方便，具有較強的適用性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例一提供的用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置的結構示意圖。

圖2為采用本實施例的用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置進行太赫茲光譜檢測得到的頻域透射曲線圖。

圖3為本發明實施例二提供的用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置的使用方法的流程圖。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。