[發明專利]用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置及其使用方法

無效

• 申請號: 201110050929.1
• 申請日: 2011-03-03
• 公開（公告）號: CN102183463A
• 公開（公告）日: 2011-09-14
• 發明（設計）人: 汪懋華;李斌;汪寧
• 申請（專利權）人: 中國農業大學
• 主分類號: G01N21/03
• 分類號: G01N21/03
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

1.一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置，其特征在于，所述樣品承載裝置為采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的長方體盒體；且所述長方體盒體為包括五個側壁的無頂結構；所述長方體盒體的各側壁厚度為1mm-1.5mm。

2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述長方體盒體的長為30mm-80mm，寬為30mm-80mm，高為3mm-5.5mm。

3.根據權利要求1或2所述的裝置，其特征在于，所述無頂結構為缺少一個所述長方體盒體的高所在的側壁。

4.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述長方體盒體的所述五個側壁中兩個相鄰側壁之間采用環氧樹脂膠粘合。

5.一種用于太赫茲光譜測量的樣品承載裝置的使用方法，其特征在于，包括如下步驟：

清潔樣品承載裝置；所述樣品承載裝置為采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的長方體盒體；且所述長方體盒體為包括五個側壁的無頂結構；所述長方體盒體的各側壁厚度為1mm-1.5mm；

將待測樣品導入所述長方體盒體中，以準備進行太赫茲光譜的測量。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述待測樣品為固體顆粒時，將所述待測樣品導入所述長方體盒體中，具體包括如下：

將固體顆粒填入所述長方體盒體中，并在填入過程中不斷抖動所述長方體盒體，使得所述固體顆粒在重力作用下自然壓實，直到固體顆粒填至所述長方體盒體的五分之四以上。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述待測樣品為液體時，將所述待測樣品導入所述長方體盒體中，具體包括如下：

從所述長方體盒體的底部開始注入液體，并在注入過程中抖動所述長方體盒體，以趕走液體中的氣泡，直至液體充至所述長方體盒體的五分之四以上。

8.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述待測樣品為氣體時，將所述待測樣品導入所述長方體盒體中，具體包括如下步驟：

從所述長方體盒體的底部開始通過導管導入氣體，充氣數分鐘后再開始進行太赫茲光譜的測量，并在太赫茲光譜的測量的過程中，需要始終保持充氣狀態。

9.根據權利要求5-8任一所述的方法，其特征在于，所述清潔樣品承載裝置，具體包括：去除所述長方體盒體內所述待測樣品的殘留及灰塵。