[發明專利]用于校正檢測器間頻帶增寬效應的方法有效
| 申請號: | 201110008100.5 | 申請日: | 2004-08-06 |
| 公開(公告)號: | CN102183607A | 公開(公告)日: | 2011-09-14 |
| 發明(設計)人: | S·P·特拉伊諾夫 | 申請(專利權)人: | 懷雅特技術公司 |
| 主分類號: | G01N30/86 | 分類號: | G01N30/86;G01N30/74 |
| 代理公司: | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人: | 趙蓉民 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 校正 檢測器 頻帶 效應 方法 | ||
1.一種獲得順次通過一組兩個或多個檢測器i(i=1,n)的樣品的選擇的物理性質的方法,其中n是檢測器的數目,當一些所述檢測器顯示出其信號的頻帶增寬時,該方法使用響應于從中通過的所述樣品由所述檢測器產生的作為時間的函數的信號的組合Di(t),該方法包括步驟:
a)應用參數化增寬函數B(α0,α1,...,αl,τ)到檢測器組以因此獲得相應組的檢測器信號,其中α特性化檢測器i的增寬的范圍,而l是可調參數的數目,其中是現在被增寬的所述檢測器信號,而α′ij和τ′i是所述增寬函數的最佳擬合參數;和
b)使用現在被增寬的所述檢測器信號,接著應用所述增寬函數來獲得所述樣品的選擇的物理性質。
2.根據權利要求1所述的方法,其中,要獲得的所述選擇的物理性質是所述樣品的重均摩爾質量Mw,和所述樣品的均方半徑<rg2>。
3.根據權利要求1所述的方法,其中,所述檢測器信號依次來自紫外檢測器和多角度光散射檢測器,并且多角度光散射的信號被增寬。
4.根據權利要求1所述的方法,其中,所述檢測器信號依次來自折射率檢測器和粘度計,并且所述折射率檢測器的信號被增寬。
5.根據權利要求1所述的方法,其中,可調參數α0代表儀器的高斯寬度δ,并且可調參數α1代表由于混合而導致的增寬w,并且所述增寬函數由下式給出:
其中,當t<τ時,θ(t-τ)=0,而當t≥τ時,θ(t-τ)=1。
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