[發明專利]一種閃存芯片的測試方法和閃存芯片有效
| 申請號： | 201110006680.4 | 申請日： | 2011-01-13 |
| 公開（公告）號： | CN102592679A | 公開（公告）日： | 2012-07-18 |
| 發明（設計）人： | 蘇志強;舒清明 | 申請（專利權）人： | 北京兆易創新科技有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08;G11C16/02 |
| 代理公司： | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319 | 代理人： | 蘇培華 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 閃存 芯片 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種閃存芯片的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
外部測試機臺對并行測試的待測芯片發出一個操作指令；
待測芯片執行操作指令；
待測芯片內部的狀態機自動發送操作指令給待測芯片，完成待測芯片的測試。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
在所述待測芯片執行操作指令之后，校驗待測芯片內的所有存儲單元是否通過測試，若是，則停止操作；反之，則狀態機機自動發送操作指令給待測芯片。
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
在待測芯片的所有存儲單元通過測試后，狀態機將測試通過信號返回給外部測試機臺。
4.一種閃存芯片，其特征在于，包括：
操作指令接收模塊，用于接收操作指令；
狀態機，對外部測試機臺的發出的操作指令進行智能分析，并自動發出操作指令給操作指令接收模塊。
5.如權利要求4所述的閃存芯片，其特征在于，所述閃存芯片還包括校驗模塊，校驗閃存芯片的執行結果，并將結果發送給狀態機。
6.如權利要求4或5所述的閃存芯片，其特征在于，所述狀態機為邏輯控制單元。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京兆易創新科技有限公司，未經北京兆易創新科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201110006680.4/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
