[發(fā)明專利]一種閃存芯片的測試方法和閃存芯片有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201110006680.4 | 申請日： | 2011-01-13 |
| 公開（公告）號： | CN102592679A | 公開（公告）日： | 2012-07-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 蘇志強;舒清明 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京兆易創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/08 | 分類號： | G11C29/08;G11C16/02 |
| 代理公司： | 北京潤澤恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11319 | 代理人： | 蘇培華 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 閃存 芯片 測試 方法 | ||
1.一種閃存芯片的測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
外部測試機臺對并行測試的待測芯片發(fā)出一個操作指令；
待測芯片執(zhí)行操作指令；
待測芯片內(nèi)部的狀態(tài)機自動發(fā)送操作指令給待測芯片，完成待測芯片的測試。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
在所述待測芯片執(zhí)行操作指令之后，校驗待測芯片內(nèi)的所有存儲單元是否通過測試，若是，則停止操作；反之，則狀態(tài)機機自動發(fā)送操作指令給待測芯片。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
在待測芯片的所有存儲單元通過測試后，狀態(tài)機將測試通過信號返回給外部測試機臺。
4.一種閃存芯片，其特征在于，包括：
操作指令接收模塊，用于接收操作指令；
狀態(tài)機，對外部測試機臺的發(fā)出的操作指令進行智能分析，并自動發(fā)出操作指令給操作指令接收模塊。
5.如權(quán)利要求4所述的閃存芯片，其特征在于，所述閃存芯片還包括校驗?zāi)K，校驗閃存芯片的執(zhí)行結(jié)果，并將結(jié)果發(fā)送給狀態(tài)機。
6.如權(quán)利要求4或5所述的閃存芯片，其特征在于，所述狀態(tài)機為邏輯控制單元。
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