[發明專利]一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法

有效

• 申請號: 201110006253.6
• 申請日: 2011-01-13
• 公開（公告）號: CN102074031A
• 公開（公告）日: 2011-05-25
• 發明（設計）人: 梅領亮;徐地華;甘明輝;李偉;王建平
• 申請（專利權）人: 廣東正業科技股份有限公司
• 主分類號: G06T11/60
• 分類號: G06T11/60
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 羅曉林;李志強

技術領域

本發明涉及一種建標方法，特別是涉及一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法。

背景技術

隨著印刷電路板的應用越來越廣泛，生產中對于印刷電路板的要求也越來越高，怎么檢查印刷電路板外表面是否存在刮花、缺陷及不光滑是技術人員面臨的主要難題。外觀檢查機的檢測原理主要是通過軟件程序做好一個標準樣板的資料，然后通過圖像傳感器CCD（英文Charge-coupled?Device的縮寫）對其它板進行掃描成像，然后將得到的圖像與做好的標準樣板進行對比并設定一定的偏差范圍，在范圍內的就判為合格，超出范圍的就為不合格。

現有技術中的軟件算法取的是單板建標方式，通過人工選擇一塊合格板，然后通過機器CCD進行掃描，然后對板的色差信息進行分區處理，建立一個標準樣板的信息數據庫，然后再對其它樣板進行掃描與這個標準庫進行比對，與該樣板一致的就判為合格，超出范圍的就為不合格。但此方法存在一定的缺陷，一塊樣板的色差信息太過簡單，因為制造工藝的原因造成樣板在色差和尺寸上總會存在一定的偏差，因此很容易造成誤判和漏判。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的不足，提供一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法，采集多塊板的信息，此標準電路板拓寬檢查的色差等的范圍，對電路板的色污、殘缺等出貨前的成品檢測,更能準確判別印刷電路板的缺陷，不容易出現誤判的情況，效率高。

為了達到上述目的，本發明采用的技術方案是，一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法，將多塊印刷電路板掃描圖像、分析色差及整理，并將信息集中到一張圖譜上，將容易漏檢的掩膜后的小焊盤圖像進行處理，該印刷電路板的圖譜即作為檢查其他印刷電路板的標準。

一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法，步驟如下：

步驟1、手工挑選多塊合格的印刷電路板；

步驟2、利用軟件對多塊印刷電路板逐一采集原圖；

步驟3、對原圖進行大小和色差的處理和分析；

步驟4、利用統計學統計出色差的正態分布區域；

步驟5、找出色差密度最大的中心區域和密度相對集中的平均球體半徑區域；

步驟6、將色差分布的中心區域和平均球體半徑區域設定為檢查印刷電路板合格的區域；

步驟7、通過調整半徑值的大小來控制軟件判斷印刷電路板合格的色差范圍。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：第一、將多塊印刷電路板掃描圖像、分析色差及整理，并將信息集中到一張圖上，該印刷電路板的圖即作為檢查其他印刷電路板的標準，此標準電路板拓寬檢查的色差等的范圍，標準相對較寬，對電路板的色污、殘缺等出貨前的成品檢測,更能準確判別印刷電路板的缺陷，不容易出現誤判的情況，效率高；第二、利用統計學原理統計出多塊經過手工挑選合格的印刷電路板的色差正態分布區域，建立一個標準來檢驗其他印刷電路板；第三、解決了從單塊板建標到多塊板建標的圖像位置對準問題，保證多張采集的印刷電路板圖像的位置一致對準，利于建標。

附圖說明

圖1為本發明的流程圖；

圖2為本發明的工作流程圖。

具體實施方式

本發明的主旨在于克服現有技術的不足，提供一種外觀檢查機的建標方法，對軟件算法進行了改進，將單板建標方式改為多板建標方式，集合多塊板的信息進行綜合處理。在生產過程中，每批次的每塊板基本上是一樣的，只是顏色和尺寸存在細微差別，由于每種顏色都存在一定的色域空間，色差相近的處于中心位置，色差發散的處于邊緣位置，根據正態分布原理，將色差的總體看作一個橢球體，找出色差分布的一個中心點O和一個半徑R，于是一塊樣板的其中一種顏色就可以通過（O，R）的數學模型建立起來。因為每塊板的色差信息都存在一定的差別，因此每塊板同樣顏色區域的（O，R）都會存在一定的差別，需要采集多塊板的信息，將顏色密度最大的部分得到一個中心O’，將所有信息都包括起來形成一個新的半徑R’，此時建立了一個（O’，R’）的數學模型，通過正態分布規律包含大多數板的色差信息，在檢測的時候通過調整R’的值來調整檢測的范圍，減小誤判和漏判的概率。

下面結合實施例參照附圖進行詳細說明，以便對本發明的技術特征及優點進行更深入的詮釋。

本發明的流程圖如圖1所示，一種印刷電路板外觀檢查機的建標方法，步驟如下：

步驟1、手工挑選多塊合格的印刷電路板；

步驟2、利用軟件對多塊印刷電路板逐一采集原圖；

步驟3、對原圖進行大小和色差的處理和分析；

步驟4、利用統計學統計出色差的正態分布區域；