[發明專利]半導體裝置及其制造方法有效
| 申請號: | 201080071007.2 | 申請日: | 2010-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN103283003A | 公開(公告)日: | 2013-09-04 |
| 發明(設計)人: | 鳥羽隆一;門脅嘉孝;曹明煥;李錫雨;張弼國 | 申請(專利權)人: | 同和電子科技有限公司;偉方亮有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/28 | 分類號: | H01L21/28;H01L33/32;H01S5/323 |
| 代理公司: | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 劉新宇 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 裝置 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種使用外延生長形成的III族氮化物半導體的半導體裝置的構造及其制造方法。
技術背景
GaN所代表的III族氮化物半導體因其帶隙較寬,作為藍色、綠色等發光二極管(LED)、鐳射二極管(LD)等發光器件、功率器件的材料而被廣泛使用。就半導體材料的代表硅而言,一般使用切取自大口徑大塊晶體而得到的大口徑晶片。對此,就此化合物半導體而言,取得大口徑(例如直徑4厘米以上)的大塊晶體是件非常困難的事情。因此,在制造使用了此種化合物半導體的半導體裝置時,一般會使用在與此不同的材料所構成的基板上,使此化合物半導體發生異質外延生長的晶片。而且,構成LED、LD的pn結合、異質結合也是再在其上面進行外延生長來獲得。
例如,藍寶石等作為可以促成GaN單結晶生長的外延生長用基板材料而為人們所知。藍寶石相對容易獲得大孔徑的大塊單結晶,而且通過適當選擇其面方位,可以在其單結晶所構成的基板上促成GaN發生異質外延生長。通過此過程,就可以得到大口徑的GaN單結晶所形成的晶片。
在此,通過在藍寶石基板上形成p型GaN層和n型GaN層而形成pn結合,但是,一般而言,獲得優質的p型GaN層比獲得n型GaN層更困難。因此,通常在此構成上,依次通過外延生長在藍寶石基板上形成厚的n型GaN層,而在n型GaN層上形成薄的p型GaN層。就此構成而言,因為構成基板的藍寶石為絕緣性,與p型GaN層、n型GaN層發生電流接觸時,經常都要從上側(與基板相反的一側)取出。因為藍寶石是透明的,在發光器件上,可從下側取出發光(倒樁芯片結構)。
圖9為此結構的發光器件制造工序的簡化示意圖。在此制造方法中,首先如圖9(a)所示,在藍寶石基板91上依次形成了n型GaN層92、p型GaN層93。并且,實際上,在n型GaN層92與藍寶石基板91之間,通常形成緩沖層,用來提高n型GaN層92的結晶性,但在此處省略了此記載。其后,如圖9(b)所示,通過將此表面進行部分蝕刻,形成暴露出n型GaN層92的區域,在此部分形成n側電極94,在p型GaN層93的表面形成p側電極95。
關于此結構的電極材料構成,例如在專利文獻1中有記載。在此文獻中記載如下:在n側電極94處,尤其作為與n型GaN層92接觸的一層,通過焊濺形成了Cr或Cr合金,在其上面,經由Ti形成了Au層,此構造對于n型GaN層92擁有良好的歐姆接觸特性。而且在專利文獻2中也有記載:Ti和Al的合金對于n型GaN層92擁有良好的歐姆接觸特性。即是說,將此結構的電極連接在n型GaN層92上,就可以降低電極電阻,得到擁有良好發光特性的發光器件。
在圖9的結構中,發光從下側取出,但在圖9(b)中的右側,在上側,n型GaN層92暴露出的區域完全不對發光做貢獻。因此,作為擁有更高發光效率的形態,要撤除作為生長用基板的藍寶石基板,也使用了在n型GaN層的里側形成n側電極的結構。圖10為此結構的發光器件制造方法的簡化示意圖。
在此制造方法中,首先如圖10(a)所示,在藍寶石基板91上,經由剝離層96依次形成n型GaN層92、p型GaN層93。之后,如圖10(b)所示,通過化學性處理(化學剝離)、激光照射(激光剝離)來去除剝離層96。由此,將藍寶石基板91與n型GaN層92相分離,暴露出n型GaN層92的下面。由此,如圖10(c)所示,可分別在n型GaN層92下面的一部分形成n側電極94,以及在p型GaN層93上面處形成p側電極95。在此結構中,與圖9的結構相比,可擴大實質性的發光面積,因此,得到了更高的發光效率。而且,不需要從p型GaN層93的上面一側取出光來,所以,也可以擴大對光不透明的p側電極95的面積,在p型GaN層93的表面廣范圍內形成p側電極95。一般而言,p型GaN層93的電阻率相比n型GaN層92要高,所以,擴大p側電極95的面積對于降低電極部分的電阻是有效的。并且,如果使用對發光波長反射率較高的材料作為與p型GaN層接觸的p型歐姆電極,就會將發光層的光反射到對抗面一側,可得到更高的發光效率。
專利文獻1:日本專利特開2005-197670號公報
專利文獻2:日本專利特開平7-45867號公報
發明內容
發明要解決的課題
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





