[發(fā)明專利]用來測定用于控制器的功能參數的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080057323.4
• 申請日: 2010-12-02
• 公開（公告）號: CN102652292A
• 公開（公告）日: 2012-08-29
• 發(fā)明（設計）人: M.布曼斯;M.博斯勒;M.約翰納貝爾;M.雷格
• 申請（專利權）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G05B19/042
• 分類號: G05B19/042;F02D41/24;F02D41/02;F02D41/00;G05B13/04;G05B17/00
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 梁冰;楊國治

1.用來測定用于控制器（22）的功能參數（20，42）的方法，所述方法被設置用于觸發(fā)技術系統（10，30），其中預先給定至少一個目標參量以用于系統特性，并且執(zhí)行所述功能參數（20，42）的改變，其中根據所獲得的對所述功能參數（20，42）的響應在考慮所述至少一個預先給定的目標參量的情況下來執(zhí)行對所設定的功能參數（20，42）的評估。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述功能參數（20，42）直接在所述系統（10，30）上改變，并且所述響應是所述系統（10，30）的響應。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述功能參數（20，42）通過中間模型（32）來改變，并且所述響應是所述中間模型（32）的響應。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，根據響應來計算判據，并且由所計算的判據和所述至少一個預先給定的目標參量形成所述系統（10，30）的模型（14，36）。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的方法，其中使用優(yōu)化器（16，38）。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，所述優(yōu)化器（16，38）考慮響應的發(fā)展。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的方法，其中預先給定多個目標參量，并且通過目標參量的加權預先給定系統特性。

8.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，所述方法在控制器軟件內執(zhí)行。

9.根據權利要求1至7中任一項所述的方法，所述方法在控制器軟件之外執(zhí)行。

10.具有計算單元的控制器，在其上執(zhí)行函數，其中所述控制器（22）被設計用于：利用根據權利要求1至9中任一項所述的方法測定所述函數的功能參數（20，42）。