[發明專利]外觀檢查裝置

有效

• 申請號: 201080056200.9
• 申請日: 2010-11-25
• 公開（公告）號: CN102713580A
• 公開（公告）日: 2012-10-03
• 發明（設計）人: 松田晉也;青木廣志
• 申請（專利權）人: 第一實業視檢系統股份有限公司
• 主分類號: G01N21/85
• 分類號: G01N21/85;G01B11/30
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;姚衛華

技術領域

本發明涉及一種裝置，檢查醫藥品（片劑、膠囊等）、食品、機械零件或電子零件等（以下，稱為“檢查對象物”）的外觀。?

背景技術

以往，作為檢查所述檢查對象物表面的外觀的裝置，已知有例如日本專利特開昭63-53452號公報（先前例1）或日本專利特開2004-317126號公報（先前例2）中公開的裝置。?

該先前例1的檢查裝置是對檢查對象物的表面照射漫射光，利用攝像裝置適當拍攝表面，通過對所得的灰度圖像進行分析，檢測存在于檢查對象物表面上的污痕或印刷部，判別其是否合適。?

該檢查裝置是通過對檢查對象物表面照射漫射光而從所有方向均質地照明表面，由此，獲得將存在于表面上的凹凸取出、即抑制產生由凹凸造成的陰影且使表面的圖形（污痕或印刷部）強調的灰度圖像。?

另一方面，所述先前例2的檢查裝置是對檢查對象物表面照射激光狹縫光，通過攝像裝置合適拍攝受到照射的激光狹縫光的圖像，按照光切割法，分析所得圖像，取得檢查對象物表面的有關高度的信息，并依據所得高度信息，檢測存在于檢查對象物的表面上的劃痕或缺損等，而且，算出檢查對象物的體積。?

背景技術文獻?

專利文獻?

專利文獻1：日本專利特開昭63-53452號公報?

專利文獻2：日本專利特開2004-317126號公報?

發明內容

[發明要解決的問題]?

然而，所述先前例的檢查裝置內、先前例2的檢查裝置中存在以下說明的?問題。?

即，當所述檢查對象物的表面存在深色部時，如果對該深色部照射所述激光狹縫光，那么激光將在深色部被吸收而不會產生反射光，因此，通過所述攝像裝置將拍攝到該深色部中缺失反射光的圖像。?

而且，在使用如此的部分缺失的圖像，按照所述光切割法，計算檢查對象物表面的高度信息時，會因圖像缺失而判定為高度異常，從而無法判定檢查對象物表面的準確形狀。?

尤其在所述醫藥品的情況下，在其表面上通常印刷有文字等，因此，使用有所述光切割法的形狀檢查無法對所述醫藥品進行準確檢查。?

另一方面，由于醫藥品在藥效方面要求高度保證，所以，若能準確檢測其表面的劃痕或缺損，則極為有益。?

本發明是鑒于以上實際情況研制而成，其目的在于提供一種外觀檢查裝置，即便表面具有深色圖形的物品，也可以準確檢查其表面形狀。?

[解決問題的技術手段]?

為實現所述目的，本發明涉及一種外觀檢查裝置，其包括：?

輸送單元，沿著特定的輸送路徑，輸送檢查對象物；?

表面圖形檢查單元，檢查由所述輸送單元輸送的所述檢查對象物的表面圖形；以及?

表面形狀檢查單元，檢查同樣地由所述輸送單元輸送的所述檢查對象物的表面形狀；且?

所述表面圖形檢查單元包括：灰度圖像攝像部，配設在所述輸送路徑附近，對所述檢查對象物的表面照射漫射光，拍攝由該漫射光照明的檢查對象物表面的灰度圖像；以及圖形判定部，依據由該灰度圖像攝像部拍攝的灰度圖像，辨識所述檢查對象物表面的圖形特征，判定該圖形是否合適；?

所述表面形狀檢查單元包括：狹縫光圖像攝像部，配設在相較所述灰度圖像攝像部為上游側或下游側的所述輸送路徑附近，將帶狀狹縫光以其照射路線與所述檢查對象物的輸送方向正交的方式照射到所述檢查對象物表面，并且從攝像光軸沿著所述檢查對象物的輸送方向且與照射到所述檢查對象物的狹縫光的光軸交叉的方向，拍攝對所述檢查對象物照射所述狹縫光時的圖像；以及形狀判定部，依據由該狹縫光圖像攝像部拍攝的圖像，辨識所述檢查對象物表面的形狀特征，判定該形狀是否合適；?

進而，所述形狀判定部構成為從所述圖形判定部接收與至少所述檢查對象物表面的存在深色部的區域相關的信息，且將接受信息的區域設定為非檢查區域，判定所述形狀是否合適。?

根據本發明的外觀檢查裝置，由所述輸送單元輸送的檢查對象物是其表面由所述表面圖形檢查單元進行檢查，且依據由所述灰度圖像攝像部拍攝的灰度圖像，判定其表面的圖形是否合適。例如在表面存在污痕的情況下，作為圖形特征檢測到污痕，其結果判定為不良，在表面印刷有文字等的情況下，作為圖形特征檢測到此印刷部，判定印刷狀態是否合適。?