[發明專利]用于切割和/或蝕刻包括其上復制有圖案和/或筆跡的平坦表面的物品的設備及用于致動該設備的方法有效
| 申請號: | 201080045894.6 | 申請日: | 2010-10-11 |
| 公開(公告)號: | CN102574288A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 朱塞佩·加盧奇 | 申請(專利權)人: | 朱塞佩·加盧奇 |
| 主分類號: | B26D5/34 | 分類號: | B26D5/34;B26F1/38 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 11038 | 代理人: | 王愛華 |
| 地址: | 意大利阿斯*** | 國省代碼: | 意大利;IT |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 切割 蝕刻 包括 復制 圖案 筆跡 平坦 表面 物品 設備 方法 | ||
1.一種用于切割和/或蝕刻包括其上復制有圖案和/或筆跡的平坦表面的物品的設備,包括:
設置在工作面(2)上面的操作組(5),該工作面(2)設置有用于接收包括其上復制有圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)的平坦表面(10)的物品(4)的上表面(3),該操作組(5)可沿著工作面(2)移動以在物品(4)上操作,并包括用于切割和/或蝕刻物品(4)的裝置和當物品(4)設置在工作面(2)上時用于檢測復制在物品(4)上的圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)的第一光學裝置(7);
該設備特征在于:還包括相對于表面(2)設置的第二光學裝置(9),從而用于檢測工作面(2)的整個上表面(3),并檢測物品(4)在工作面(2)上的定向和位置。
2.根據權利要求1的設備,其中該操作組(5)設置在相對于工作面(2)的上表面(3)的第一高度處,其特征在于:該第二光學裝置(9)設置在相對于工作面(2)的上表面(3)的第二高度處,并且在于:該第二高度大于該第一高度。
3.根據權利要求1或2的設備,其特征在于:第二光學裝置(9)設置為使得其焦軸垂直于工作面(2)的上表面(3)。
4.根據任一在前權利要求的設備,其特征在于:第二光學裝置(9)包括視覺照相機。
5.根據前一權利要求的設備,其特征在于:該視覺照相機是彩色視覺照相機。
6.根據前一權利要求的設備,其特征在于:包括用于選擇物品(4)的平坦表面(10)上要切割和/或蝕刻的部分的裝置(8)。
7.根據前一權利要求的設備,其特征在于:包括用于建立對含有圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)的物品(4)的平坦表面(10)的選擇的部分進行切割和/或蝕刻的順序的裝置(8)。
8.一種用于致動任一在前權利要求的設備的方法,包括以下步驟:
靜止地設置至少一個物品(4)在工作面(2)的上表面(3)上,從而使得圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)復制到其上的物品(4)的平坦表面(10)面向上;
并且特征在于:還包括以下步驟:
通過第二光學裝置(9)檢測工作面(2)的整個上表面(3),以及物品(4)在工作面(2)上的定向和位置。
9.根據前一權利要求的方法,其特征在于:在檢測工作面(2)的整個上表面(3)以及物品(4)在工作面(2)上的定向和位置的步驟之后,還包括以下步驟:
朝著設置有物品(4)的工作面(2)的上表面(3)的區域運動操作組(5);
經由第一光學裝置(7)檢測復制在物品(4)上的一些或全部圖案和/或筆跡(11A、11B、11C);
對含有圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)的物品(4)的平坦表面(10)的預定部分進行切割和/或蝕刻。
10.根據前一權利要求的方法,其特征在于:包括選擇物品(4)的平坦表面(10)上要切割和/或蝕刻的部分。
11.根據前一權利要求的方法,其特征在于:建立順序,以該順序對含有圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)的物品(4)的平坦表面(10)的選擇部分進行切割和/或蝕刻。
12.根據權利要求8-12中任一項所述的方法,其特征在于:在采用第二光學裝置(9)檢測工作面(2)的整個上表面(3)和物品(4)在工作面(2)上的定向和位置的步驟之后,一文件關聯于每個圖案和/或筆跡(11A、11B、11C),該文件已經存在于數據庫中,該文件含有關于要在其上切割和/或蝕刻的平坦表面(10)的部分的信息,以切割和/或蝕刻檢測到的圖案和/或筆跡(11A、11B、11C)。
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