[發明專利]用于檢查諸如容器、蓋子等凹入元件的設備

無效

• 申請號: 201080035136.6
• 申請日: 2010-07-30
• 公開（公告）號: CN102597750A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: M·伯德奇;S·卡羅利
• 申請（專利權）人: 伊莫拉SACMI機械合作公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/90
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 茅翊忞

技術領域

本發明涉及一種用于檢查諸如容器、蓋子等凹入元件的設備。

背景技術

更具體地，本發明涉及一種用于檢查凹入元件，并特別是用于使含有軟飲料等的瓶子閉合的塑料蓋子的設備，該設備可檢查凹入表面，從而允許檢測污染物和/或缺陷，這些缺陷是諸如材料過多和/或缺少、形狀和/或組裝缺陷。

下面，本發明將解決對用于軟飲料的塑料蓋子的檢查，但顯然不必考慮將其局限于該具體用途。

如已熟知，塑料瓶子(PET等)主要由于它們較小的重量而總是被更多地使用，所述瓶子具有較高的衛生標準和大大減少的運輸費用。塑料瓶子通過由螺紋連接的合適的蓋子進行密封。此外，基于瓶子內含有的飲料而使用不同的蓋子。對于碳酸飲料，它們采用設有位于凹入表面的底部上、適于限制氣體從瓶子排出的盤狀墊片(也稱為“襯墊”)的蓋子。所述墊片的邊緣插在蓋子底部和蓋子的內部側向表面上獲得的圓形突起之間，疊置在所述墊片上。與此相對，對于非碳酸飲料使用設有與瓶子邊緣相互作用的密封環的蓋子。

在此領域中，有必要為了確保瓶子內含有的產品的適當保存并為了防止飲料罐主要從墊片泄漏添加氣體而需要控制墊片的定位或密封環的適當形狀。

目前，存在允許檢測蓋子缺陷的不同系統，主要是光學系統。在這些解決方案中，可以提及在EP?1078228B1、JP?9068503、EP?0371547和JP?2004109064A中所述的那些，它們基本上包括相機或傳感器、用于照亮待檢查的蓋子的裝置、適于將檢測到的蓋子圖像發送到相機或傳感器鏡頭以獲得所述蓋子的光學圖像的光學組件。此外，通常已知的設備具有用于處理圖像以自動檢測蓋子缺陷的裝置。

然而，已知系統并不解決檢測墊片的適當定位的問題。此外，已知設備中使用的光學組件不能分析通常非常復雜的蓋子的內部結構。

最后，由于越來越嚴格的市場需求，飲料瓶子以及相關的蓋子具有不同的顏色。這使在檢測缺陷時難以保持高的可靠度，這是因為該蓋子和墊片之間的對比度太低。

發明內容

鑒于上述，因此本發明的目的是建議一種用于檢測諸如容器、蓋子等的凹入元件的設備，從而允許解決上述問題，并且特別是檢測諸如瓶蓋內的密封環的接受檢查的元件的構造缺陷，并當考慮蓋子時，對于復雜元件總是評估可能的組裝缺陷，諸如內部墊片的適當定位。

本發明的另一目的是根據本發明的設備適于一般性地檢查設有墊片或密封環的蓋子。

本發明的又一目的是設備可以可靠地檢查具有每一種顏色的蓋子以及透明的蓋子和/或不透過光輻射的蓋子。

因此，本發明的具體目的是一種用于檢查諸如容器、蓋子等凹入元件的設備，以檢測污染物和/或諸如材料過多和/或缺少的缺陷，該設備包括用于照亮待接受檢查的凹入元件的裝置、諸如相機等的圖像檢測單元、光學組件和用于處理通過所述圖像檢測單元獲得的圖像以區別所述凹入元件的所述缺陷和/或所述污染物的裝置，其特征在于，所述照明裝置包括第一光源和第二光源，第一光源適于產生引導在所述凹入元件的凹入表面上的漫射光照，第二光源適于產生引導在所述凹入元件的外部側向表面上的掠入射(grazing)光照，并且所述光學組件放置成檢測由所述凹入元件的凹入表面發射的光并將光傳送到所述圖像檢測單元。

還根據本發明，所述凹入元件不透過由所述照明裝置發射的輻射，所述第一光源是激活的，而所述第二光源被衰減或關閉，而如果所述凹入元件透過由所述照明裝置發射的輻射，則所述第二光源是激活的，而所述第一光源被衰減或關閉。

仍根據本發明，所述第一光源和所述第二光源適于產生具有不同波長，較佳為紅色和/或藍色和/或綠色和/或紅外的光照，因而如果所述凹入元件透過由所述照明裝置發射的輻射，則所述照明裝置適于通過具有更好地近似于所述凹入元件的主色的波長或者所述凹入元件更好地透過的基本上單色的光來照亮所述凹入元件，而如果所述凹入元件不透過由所述照明裝置發射的輻射，則所述照明裝置適于通過具有更好地近似所述凹入元件的待接受檢查的內部部件的主色的波長或所述內部部件更好地透過的或根據紅外輻射波長的基本上單色的光來照亮所述凹入元件。

此外，根據本發明，所述第一光源和所述第二光源包括多個LED。

有利地，根據本發明，所述第二光源具有環形形狀，而所述第一光源具有環形形狀并且相對于所述第二光源基本上同心放置。

總是根據本發明，所述光學組件放置在待接受檢查的所述凹入元件的上方，并具有至所述凹入元件的外部側壁的檢測角，所述檢測角相對于與待接受檢查的所述凹入元件的定位平面垂直的軸線測量大于30°，較佳地約45°。