[發明專利]用于檢查諸如容器、蓋子等凹入元件的設備

無效

• 申請號: 201080035136.6
• 申請日: 2010-07-30
• 公開（公告）號: CN102597750A
• 公開（公告）日: 2012-07-18
• 發明（設計）人: M·伯德奇;S·卡羅利
• 申請（專利權）人: 伊莫拉SACMI機械合作公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/90
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 茅翊忞

1.一種用于檢查諸如容器、蓋子(3)等凹入元件的設備，以檢測污染物和/或諸如材料過多和/或缺少的缺陷，所述設備包括：

用于照亮待接受檢查的凹入元件(3)的裝置(4)，

諸如相機(6)等的圖像檢測單元，

光學組件(5)以及

用于處理通過所述圖像檢測單元(6)的圖像獲得以區別所述凹入元件(3)的所述缺陷和/或所述污染物的裝置，

其特征在于，

所述照明裝置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″)，所述第一光源適于產生引導在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照，第二光源適于產生引導在所述凹入元件(3)的外部側向表面(3″)上的掠入射光照，以及

所述光學組件(5)放置成檢測由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)發射的光并將光傳送到所述圖像檢測單元(6)。

2.如權利要求1所述的設備(1)，其特征在于

如果所述凹入元件(3)不透過由所述照明裝置(4)發射的輻射，則所述第一光源(4′)是激活的，而所述第二光源(4″)被衰減或關閉，

而如果所述凹入元件(3)透過由所述照明裝置(4)發射的輻射，則所述第二光源(4″)是激活的，而所述第一光源(4′)被衰減或關閉。

3.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述第一光源(4′)和所述第二光源(4″)適于產生具有不同波長，較佳為紅色和/或藍色和/或綠色和/或紅外的光照，因而

如果所述凹入元件透過由所述照明裝置(4)發射的輻射，則所述照明裝置(4)適于通過具有更好地近似于所述凹入元件(3)的主色的波長或者所述凹入元件(3)更好地透過的基本上單色的光來照亮所述凹入元件(3)，

而如果所述凹入元件不透過由所述照明裝置(4)發射的輻射，則所述照明裝置(4)適于通過具有更好地近似于所述凹入元件(3)的待接受檢查的內部部件(7、8)的主色的波長或所述內部部件(7、8)更好地透過的或根據紅外輻射波長的基本上單色的光來照亮所述凹入元件(3)。

4.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述第一光源(4′)和所述第二光源(4″)包括多個LED(7)。

5.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述第二光源(4″)具有環形形狀，而所述第一光源(4′)具有環形形狀并且相對于所述第二光源(4″)基本上同心放置。

6.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述光學組件(5)放置在待接受檢查的所述凹入元件(3)的上方，并具有至所述凹入元件(3)的外部側壁(3″)的檢測角(a)，所述檢測角相對于與待接受檢查的所述凹入元件(3)的定位平面垂直的軸線測量大于30°，較佳地約45°。

7.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述光學組件(5)包括第一柱面鏡(5′)和相對于所述第一柱面鏡(5′)基本上同心的第二截頭錐形鏡(5″)，由所述凹入元件(3)的所述凹入表面(3′)發射的光通過所述第一柱面鏡(5′)反射到所述第二截頭錐形鏡(5″)上。

8.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述第二截頭錐形鏡(5″)分成八個平坦表面。

9.如前述權利要求中任一項所述的設備(1)，其特征在于，所述凹入元件是在所述凹入表面(3′)的底部上設有墊片或“襯墊”(7)或設有密封環(8)的類型的蓋子(3)。

10.一種用于檢查諸如容器、蓋子(3)等凹入元件的方法，以檢測污染物和/或諸如材料過多和/或缺少的缺陷，所述方法包括如下步驟：

(a)照亮待接受檢查的凹入元件(3)；

(b)檢測所述凹入元件(3)的圖像；

以及

(c)處理所述檢測到的圖像以區別所述凹入元件(3)的所述缺陷和/或所述污染物；

其特征在于，在所述步驟(a)中，所述凹入元件(3)交替地或同時由引導在凹入表面(3′)上的漫射光照分量和引導在所述凹入元件的外部側向表面(3″)上的掠入射光照分量來照亮，以及

在所述步驟(b)中，檢測到由所述凹入元件(3)的所述凹入表面(3′)發射的光。