[發(fā)明專利]光盤裝置、光盤控制方法以及集成電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201080008678.4
• 申請日: 2010-12-17
• 公開（公告）號(hào): CN102326199A
• 公開（公告）日: 2012-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 中仙道剛;山岡勝;高木裕司;臼井誠
• 申請（專利權(quán)）人: 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G11B7/0045
• 分類號(hào): G11B7/0045;G11B7/005;G11B7/09;G11B19/02;G11B20/14
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021
• 代理人: 汪惠民

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及種對通過凹凸坑(concave-convex?pits)記錄有主信息的光盤追加寫入固有的追記標(biāo)記(recordable?mark)并且檢測追加寫入的追記標(biāo)記的光盤裝置、光盤控制方法以及集成電路。

背景技術(shù)

作為記錄數(shù)字內(nèi)容數(shù)據(jù)的介質(zhì)，DVD-ROM或BD-ROM等光盤得到廣泛利用。在DVD-ROM中，單層盤具有4.7GB(千兆字節(jié))的記錄容量，有兩層記錄層的雙層盤具有8.5GB的記錄容量。而且，在BD-ROM中，單層盤具有25GB的記錄容量，雙層盤具有50GB的記錄容量。因此，光盤作為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的分發(fā)介質(zhì)得到廣泛普及。尤其是，能夠大量地記錄數(shù)據(jù)的BD-ROM作為能夠容易地分發(fā)高清晰度的影像內(nèi)容數(shù)據(jù)等的光盤得到有效利用。

這樣，光盤的記錄容量增大，一張光盤中保存的內(nèi)容信息的容量增加，每張光盤的價(jià)值增高，與此相伴，希望將通過凹凸坑記錄有內(nèi)容信息的光盤按每張盤進(jìn)行區(qū)別管理的要求也變得更高。

但是，對于一般利用凹凸坑記錄內(nèi)容信息的光盤而言，其特征在于通過制作稱為母盤(stamper)的原盤，能夠一次復(fù)制多張光盤，但另一方面，由于從同一原盤進(jìn)行復(fù)制這一特性，從原盤復(fù)制的光盤具有完全相同的坑形狀。因此，不能逐張區(qū)別各光盤。

對此，作為識(shí)別從母盤復(fù)制的光盤的每張盤的技術(shù)，公開有在光盤的內(nèi)周部設(shè)置稱為BCA(burst?cutting?area，燒錄區(qū))的特殊區(qū)域，通過利用稱為YAG激光器的高輸出激光器在半徑方向上以條形碼形狀記錄長標(biāo)記，從而記錄盤固有的ID的技術(shù)(例如參照專利文獻(xiàn)1)。

或者，公開有在形成于光盤上的指定長度以上的坑(pit)或岸(land)的中央附近進(jìn)行信道時(shí)鐘單位寬度非常短的脈沖記錄，使反射率局部地發(fā)生變化，從而記錄盤識(shí)別信息的技術(shù)(例如參照專利文獻(xiàn)2)。

或者，公開有將光盤的區(qū)域分割為數(shù)據(jù)區(qū)域和識(shí)別區(qū)域，在識(shí)別區(qū)域中反復(fù)記錄調(diào)制后的模式分別被預(yù)先決定的多個(gè)坑和多個(gè)岸，對該反復(fù)記錄的坑及岸照射氣體激光使反射膜發(fā)生變化，從變化的反射膜檢測再生信號(hào)的技術(shù)(例如參照專利文獻(xiàn)3)。

或者，公開有沿著記錄了作為隨機(jī)排列的主信息的內(nèi)容信息的凹凸標(biāo)記(凹凸坑)，以信道比特長的整數(shù)倍，照射連續(xù)或間歇的激光以使反射膜的反射率發(fā)生變化，從而記錄副信息的技術(shù)(例如參照專利文獻(xiàn)4)。

但是，在專利文獻(xiàn)1公開的發(fā)明中，如該文獻(xiàn)的第0035段所述的那樣，為了將光盤的反射膜熔融成狹縫狀，記錄需要較大的能量，如果不使用YAG激光器這樣的比較大型并且高輸出的工業(yè)用脈沖激光器，則無法進(jìn)行記錄。即，專利文獻(xiàn)1的記錄裝置必須是像在工廠設(shè)置的那樣的大規(guī)模裝置，在僅搭載了較低輸出的半導(dǎo)體激光光源的一般的個(gè)人計(jì)算機(jī)用光盤驅(qū)動(dòng)器中，無法熔融鋁的反射膜以記錄光盤識(shí)別用的ID。

另外，在專利文獻(xiàn)2公開的發(fā)明中，如該文獻(xiàn)的第0017段所述的那樣，在記錄標(biāo)記時(shí)需要使用在工廠作為精加工裝置的特殊裝置，以光盤再生信號(hào)的信道比特(channel?bit)為單位正確地同步，來記錄光盤識(shí)別信息。為了不損壞坑中本來寫入的信息的再生信號(hào)質(zhì)量，光盤識(shí)別信息的記錄脈沖寬度必須充分短于坑長。在專利文獻(xiàn)2的例子中，記錄脈沖寬度為1信道比特。通常，如上所述，為了在熱傳導(dǎo)率較好的反射膜上，將能夠通過再生裝置進(jìn)行穩(wěn)定檢測的陡峭的脈沖記錄到高精度的位置，需要具有與記錄型光盤裝置同等以上精度的激光驅(qū)動(dòng)電路和輸出比較大的激光功率的激光光源。

另外，在專利文獻(xiàn)3公開的發(fā)明中，如該文獻(xiàn)的第0027段所述的那樣，作為激光源需要?dú)寮す馄骰騂e-Cd激光器等氣體激光器，與專利文獻(xiàn)1及專利文獻(xiàn)2同樣，使用由工廠管理的特殊記錄裝置。在本專利文獻(xiàn)3公開的發(fā)明中，必須在光盤的指定區(qū)域中準(zhǔn)備預(yù)先決定的多個(gè)坑及岸的模式(pattern)。在專利文獻(xiàn)3的圖11A及圖11B中，公開了3信道比特(3T)長的坑及岸的反復(fù)模式。另外，在專利文獻(xiàn)3中，在對反射膜照射氣體激光使反射膜的特性發(fā)生了變化的情況下，并未具體公開什么物理特性如何變化，使用再生裝置進(jìn)行什么樣的檢測。

另外，在專利文獻(xiàn)4公開的發(fā)明中，對一定區(qū)域的凹凸坑照射激光，使光盤的反射率在某種程度的廣范圍發(fā)生變化。專利文獻(xiàn)4公開的發(fā)明的特征在于，由于使反射率在某種程度的廣范圍發(fā)生變化，因此在反射率變化量較少的情況下也容易取得檢測靈敏度。但是，在專利文獻(xiàn)4中，雖然涉及了對凹凸坑照射激光以記錄標(biāo)記，但并未提及具體的記錄裝置的結(jié)構(gòu)。

專利文獻(xiàn)1：日本專利公開公報(bào)特許第3089599號(hào)

專利文獻(xiàn)2：日本專利公開公報(bào)特許第3454410號(hào)