[實(shí)用新型]一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201020652443.6
• 申請(qǐng)日: 2010-12-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN202017484U
• 公開(kāi)（公告）日: 2011-10-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 余磊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京深度科技有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): E21B47/02
• 分類號(hào): E21B47/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 張?jiān)姯?/td>

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)。

背景技術(shù)

對(duì)油田鉆井和地質(zhì)鉆探領(lǐng)域，采用磁測(cè)量原理的測(cè)斜儀是必不可少的測(cè)量?jī)x器。而對(duì)該儀器精度的標(biāo)定都往往采用機(jī)械式的三軸校驗(yàn)臺(tái)。該類校驗(yàn)臺(tái)往往都采用了機(jī)械刻度盤來(lái)讀取數(shù)據(jù)，但是由于校驗(yàn)臺(tái)的測(cè)量精度高，刻度線往往很細(xì)很密，因而很容易會(huì)造成視覺(jué)誤差，此外每一個(gè)人站的位置不同，其所讀取的同一點(diǎn)的刻度就會(huì)不同，這些都極大了影響了標(biāo)定的精度。而采用傳統(tǒng)的光電編碼器的方式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取的話，則會(huì)因其軸承的材料含磁而導(dǎo)致無(wú)法測(cè)量。

當(dāng)前，磁測(cè)量領(lǐng)域現(xiàn)在已日漸普及，相關(guān)的測(cè)試設(shè)備也早已開(kāi)始研制。但由于磁傳感器對(duì)周圍磁場(chǎng)環(huán)境的特殊要求，用于標(biāo)定的校驗(yàn)臺(tái)必須是無(wú)磁的，所以一般的校驗(yàn)臺(tái)無(wú)法滿足。因此需要一種及不會(huì)有磁性的影響，又能保證讀數(shù)精確的編碼器和的測(cè)試平臺(tái)，以使得測(cè)協(xié)議能準(zhǔn)確測(cè)量并方便精確的讀取數(shù)據(jù)。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型提供一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)，該種校驗(yàn)臺(tái)整體均是無(wú)磁的，避免了磁性對(duì)測(cè)試儀器的影響，而且通過(guò)其通過(guò)光電編碼器讀數(shù)的唯一性，又避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測(cè)量數(shù)據(jù)讀取的準(zhǔn)確。該種校驗(yàn)臺(tái)不僅極大的方便了調(diào)試人員的調(diào)試工作，而且在提高儀器準(zhǔn)確度的同時(shí)也降低了調(diào)試人員的工作量。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，采用以下技術(shù)方案：

一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)，其組成包括方位軸、井斜軸和工具面軸，所述方位軸上安裝有方位光電編碼器、差分刻度盤、方位鎖定手輪和調(diào)平裝置，并有微調(diào)機(jī)構(gòu)，其臺(tái)面可以圍繞臺(tái)體和下軸套旋轉(zhuǎn)，需要鎖定或微調(diào)時(shí)，擰緊臺(tái)面頂部的方位鎖定手輪，然后轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)機(jī)構(gòu)，進(jìn)行微調(diào)，調(diào)整好后可將臺(tái)面鎖定，光電編碼器固定在臺(tái)面的軸上，隨臺(tái)面一起轉(zhuǎn)動(dòng)，可以保證安裝在校驗(yàn)臺(tái)上的測(cè)試儀方位的準(zhǔn)確性；所述井斜軸安裝在方位平臺(tái)上的兩根立柱上，其上安裝有井斜光電編碼器，并有鎖緊機(jī)構(gòu)、刻度盤和微調(diào)機(jī)構(gòu)，兩個(gè)井斜半軸與固定塊可圍繞兩個(gè)立柱內(nèi)鑲的軸套旋轉(zhuǎn)，保證測(cè)試需要；所述工具面軸上安裝有工具面光電編碼器，并配有鎖緊手輪、刻度盤和微調(diào)機(jī)構(gòu)，其旋轉(zhuǎn)軸可以在鑲在固定塊內(nèi)的軸套中旋轉(zhuǎn)，需要微調(diào)時(shí)，轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)機(jī)構(gòu)，進(jìn)行微調(diào)，需要鎖定時(shí)，調(diào)整鎖緊螺釘，可實(shí)現(xiàn)鎖定。

進(jìn)一步的，所述三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)的光電編碼器為特制的無(wú)磁光電編碼器，校驗(yàn)臺(tái)整體也全部采用無(wú)磁材料制作而成，因此避免了磁性對(duì)測(cè)試儀器的干擾，保證了測(cè)試儀器的正常工作。

進(jìn)一步的，測(cè)試儀器安裝在工具面軸的旋轉(zhuǎn)軸軸孔內(nèi)，調(diào)整軸孔兩端的鎖緊手輪可以將測(cè)試儀器固定或松開(kāi)，每個(gè)軸上均裝有刻度盤和差分盤，可以進(jìn)行讀數(shù)，同時(shí)光電編碼器顯示讀數(shù)，避免了機(jī)械刻度盤讀數(shù)的誤差，保證了測(cè)試的精確，又方便了數(shù)據(jù)讀取，極大減輕了測(cè)試的工作量，使得測(cè)試更簡(jiǎn)便和易于操作。

附圖說(shuō)明

下面根據(jù)實(shí)施例和附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

圖1是本實(shí)用新型所述一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)方位軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；

圖2是本實(shí)用新型所述一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)井斜軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；

圖3是本實(shí)用新型所述一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)工具面軸組成結(jié)構(gòu)剖視圖；

圖4是本實(shí)用新型所述的一種三軸無(wú)磁校驗(yàn)臺(tái)整體結(jié)構(gòu)示意圖；

圖中：

1、方位光電編碼器；2、方位鎖定手輪；3、方位鎖定軸；4、臺(tái)面；5、臺(tái)體；6、差分刻度盤；7、線路板；8、調(diào)平裝置；9、臺(tái)體擋塊；10、下軸套；11、鎖緊母；12、離合錐塊；13、微調(diào)機(jī)構(gòu)；14、井斜光電編碼器罩；15、井斜光電編碼器；16、過(guò)度套；17、半軸A；18、軸套；19、立柱A；20、固定塊；21、半軸B；22、立柱B；23、軸套；24、鎖緊機(jī)構(gòu)；25、刻度盤；26、微調(diào)機(jī)構(gòu)；27、鎖緊手輪；28、刻度盤；29、工具面光電編碼器罩；30、工具面光電編碼器；31、軸套；32、微調(diào)機(jī)構(gòu)；33、旋轉(zhuǎn)軸；34、方位軸；35、井斜軸；36、工具面軸；37、固定螺釘；38、軸孔。

具體實(shí)施方式