[實用新型]一種三軸無磁校驗臺

無效

• 申請號: 201020652443.6
• 申請日: 2010-12-10
• 公開（公告）號: CN202017484U
• 公開（公告）日: 2011-10-26
• 發明（設計）人: 余磊
• 申請（專利權）人: 北京深度科技有限責任公司
• 主分類號: E21B47/02
• 分類號: E21B47/02
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 張詩瓊

1.一種三軸無磁校驗臺，其組成包括方位軸(34)、井斜軸(35)、工具面軸(36)，其特點在于，所述方位軸(34)底端有固定螺釘(37)，其臺體(5)內安裝有方位光電編碼器(1)、線路板(7)，所述臺體(5)的周圍是差分刻度盤(6)，臺體(5)中心裝有方位鎖定軸(3)，其頂端有方位鎖定手輪(2)，在臺體(5)內的方位鎖定軸(3)下端安裝有下軸套(10)，通過離合錐塊(12)與方位鎖定軸(3)連接，所述方位鎖定軸(3)上的下軸套(10)上端還套裝有微調結構(13)，所述方位鎖定軸(3)底端有鎖緊螺母(11)和臺體擋塊(9)；所述井斜軸(35)安裝在固定在方位軸(34)臺面上的立柱A(19)和立柱B(22)上，其半軸(17)和半軸(21)分別插入在所述立柱A(19)和立柱B(22)的軸套A(18)和軸套B(23)內，半軸A(17)的末端的過度套(16)外端安裝有井斜光電編碼器(15)，其外罩有井斜光電編碼器罩(14)，所述兩根半軸的中間安裝有固定塊(20)，所述半軸B(21)的末端裝有刻度盤(25)，并套裝有鎖緊機構(24)，鎖緊機構(24)和刻度盤(25)之間安裝有微調機構(26)，其一端連接半軸B(21)，另一端連接在立柱B(22)上；所述工具面軸(36)的旋轉軸(33)套裝在井斜軸(35)的軸套(31)內，上端套裝有刻度盤(28)，在所述旋轉軸(33)上的刻度盤(28)下端套裝有工具面光電編碼器(30)，并外罩有工具面光電編碼器罩(29)；所述的一種三軸無磁校驗臺，其全部構件均由無磁材料制成。

2.根據權利要求1所述的一種三軸無磁校驗臺，其特征在于，所述工具面軸(36)的軸孔(38)用于安裝測試儀器，其兩端各裝有一個鎖緊手輪(27)。?