[實用新型]一種存儲器芯片的性能檢測裝置有效
| 申請號： | 201020640264.0 | 申請日： | 2010-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN201853496U | 公開（公告）日： | 2011-06-01 |
| 發明（設計）人： | 王紹成 | 申請（專利權）人： | 中國神華能源股份有限公司;神華包神鐵路有限責任公司 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人： | 南毅寧;王鳳桐 |
| 地址： | 100011 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 存儲器 芯片 性能 檢測 裝置 | ||
1.一種存儲器芯片的性能檢測裝置，其特征在于，該性能檢測裝置包括：主體(7)；用于連接存儲器芯片的芯片連接裝置(8)；用于輸入清空指令的操作按鍵(9)；以及控制模塊(10)；所述芯片連接裝置(8)和操作按鍵(9)分別設置在所述主體(7)的外表面，所述控制模塊(10)設置在所述主體(7)的內部，所述控制模塊(10)包括用于根據所輸入的清空指令對存儲器芯片執行清空操作、在清空操作完成之后輸出表示清空成功的電信號的清空單元(11)，所述操作按鍵(9)和所述芯片連接裝置(8)分別與所述控制模塊(10)的清空單元(11)電連接。
2.根據權利要求1所述的性能檢測裝置，其特征在于，所述性能檢測裝置還包括轉存指示燈(1)、清空指示燈(2)和操作失敗指示燈(5)，所述轉存指示燈(1)、清空指示燈(2)和操作失敗指示燈(5)分別設置在所述主體(7)的外表面且與所述控制模塊(10)的清空單元(11)電連接。
3.根據權利要求2所述的性能檢測裝置，其特征在于，所述控制模塊(10)還包括用于根據所述表示清空成功的電信號對存儲器芯片執行故障檢測操作、在故障檢測操作成功之后輸出表示檢測成功的電信號、在故障檢測操作失敗時輸出表示檢測失敗的電信號的檢測單元(12)，該檢測單元(12)與所述清空單元(11)連接；所述性能檢測裝置還包括故障檢測指示燈(3)和操作成功指示燈(4)，所述故障檢測指示燈(3)和操作成功指示燈(4)設置在所述主體(7)的外表面且與所述控制模塊(10)的檢測單元(12)電連接，所述操作失敗指示燈(5)還與所述控制模塊(10)的檢測單元(12)電連接。
4.根據權利要求3所述的性能檢測裝置，其特征在于，所述轉存指示燈(1)、清空指示燈(2)、故障檢測指示燈(3)、操作成功指示燈(4)和操作失敗指示燈(5)為發光二極管。
5.根據權利要求1-4中任一項權利要求所述的性能檢測裝置，其特征在于，所述芯片連接裝置(8)為防插反式插槽。
6.根據權利要求1-4中任一項權利要求所述的性能檢測裝置，其特征在于，所述存儲器芯片為DALLAS芯片。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國神華能源股份有限公司;神華包神鐵路有限責任公司，未經中國神華能源股份有限公司;神華包神鐵路有限責任公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201020640264.0/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
