[實用新型]一種測量固體液體的物質分析系統

無效

• 申請號: 201020629872.1
• 申請日: 2010-11-29
• 公開（公告）號: CN201917518U
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 葉華俊;楊鐵軍
• 申請（專利權）人: 聚光科技(杭州)股份有限公司;北京聚光世達科技有限公司;北京英賢儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及光譜分析，特別涉及一種利用光譜分析樣品(如液體和固體)的系統。

背景技術

近紅外光(NIR)是一種波長在780～2526nm范圍內的電磁波。目前，一種廣泛使用的近紅外分析系統包括光源、樣品裝置、探測器和分析系統。分析的基本原理是：近紅外光源發出的連續光照射被測樣品，樣品分子選擇性地吸收某些頻率的光，根據樣品物態和透光能力的強弱選擇透射或反射的方式來測定，再通過分析檢測到的光譜實現樣品的定性定量檢測。

近紅外光譜的分析技術大體可分為兩類：透射光譜法和反射光譜法。透射光譜法是把待測樣品置于作用光與探測器之間，探測器所檢測到的分析光是作用光通過樣品體、與樣品分子相互作用后的透射光，一般用于液體樣品的測量。反射光譜法中，探測器檢測到的分析光是光源發出的作用光投射到物體后，以各種方式反射回來的光，一般用于固體樣品的測量。

現有的近紅外分析系統具有以下不足：在進行不同形態樣品檢測時需要配備不同的樣品裝置。因此，樣品裝置經常需要更換，可靠性差，系統適用性差。

實用新型內容

為了解決現有技術中的上述不足，本實用新型提供了一種結構簡單、適用范圍廣、可靠性高、成本低、方便攜帶的測量固體液體的物質分析系統。

為實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案：

一種測量固體液體的物質分析系統，所述物質分析系統包括：

光源，發出參比光、用于測量待測液體的第一測量光和用于測量待測固體的第二測量光；

容器，用于在測量液體時盛裝待測液體；

第一反射裝置，用于分別反射所述參比光和第一測量光，所述第一反射裝置設置在待測固體的一側；所述第一測量光在被所述第一反射裝置反射前或反射后穿過所述容器；

移動裝置，用于在測量待測固體時移開所述第一反射裝置，而使所述第二測量光照射到所述待測固體上；

探測器，用于分別接收所述參比光、穿過所述待測液體后的第一測量光和被所述待測固體反射后的第二測量光，并分別轉換為參比信號、第一測量信號和第二測量信號；

分析單元，用于處理所述探測器傳送來的所述參比信號、第一測量信號和第二測量信號，從而獲知所述待測液體和待測固體的參數。

根據上述物質分析系統，所述分析單元內設置有近紅外光譜分析模塊。

根據上述物質分析系統，所述物質分析系統進一步包括：

第二反射裝置，所述參比光、穿過所述容器后的第一測量光經所述第二反射裝置反射后射向所述第一反射裝置，所述第二測量光經所述第二反射裝置反射后射向所述待測固體。

根據上述物質分析系統，所述第一反射裝置采用參比板。

根據上述物質分析系統，所述參比光、第一測量光和第二測量光相同。

根據上述物質分析系統，所述光源為近紅外光源。

根據上述物質分析系統，采用儲能元件為所述光源、探測器和分析單元供電。

根據上述物質分析系統，所述儲能元件為電池。

根據上述物質分析系統，所述儲能元件還為所述移動裝置供電。

與現有技術相比，本實用新型具有的有益效果為：

1、廣泛的適用性，由于本實用新型是把液體裝置和固體裝置集成在一個樣品裝置內，可以測量固體和液體樣品，適用性廣。

2、系統成本低，本實用新型的一個樣品裝置可以測量液體和固體樣品，避免測量不同形態樣品配置不同樣品裝置的弊端，降低了成本。

3、結構簡單、可靠性高，本實用新型無需配備多種樣品裝置，無需更換樣品裝置即可實現液體和固體樣品的測量，系統可靠性高。

4、方便攜帶，體積小巧，采用儲能元件供電，具備便攜功能。

附圖說明

參照附圖，本實用新型的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是：這些附圖僅僅用于舉例說明本實用新型的技術方案，而并非意在對本實用新型的保護范圍構成限制。圖中：

圖1是根據本實用新型實施例1的物質分析系統的基本結構圖；

圖2是根據本實用新型實施例1的物質分析系統的在測量參比信號時基本結構圖；

圖3是根據本實用新型實施例1的物質分析系統在測量固體樣品時的基本結構圖；

圖4是根據本實用新型實施例2的物質分析系統的基本結構圖；

圖5是根據本實用新型實施例3的物質分析系統的基本結構圖；

圖6是根據本實用新型實施例3的物質分析系統在測量參比信號時的基本結構圖；

圖7是根據本實用新型實施例3的物質分析系統在測量固體樣品時的基本結構圖。

具體實施方式