[實用新型]一種測量固體液體的物質分析系統

無效

• 申請號: 201020629872.1
• 申請日: 2010-11-29
• 公開（公告）號: CN201917518U
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 葉華俊;楊鐵軍
• 申請（專利權）人: 聚光科技(杭州)股份有限公司;北京聚光世達科技有限公司;北京英賢儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量固體液體的物質分析系統，所述物質分析系統包括：

光源，發出參比光、用于測量待測液體的第一測量光和用于測量待測固體的第二測量光；

容器，用于在測量液體時盛裝待測液體；

第一反射裝置，用于分別反射所述參比光和第一測量光，所述第一反射裝置設置在待測固體的一側；所述第一測量光在被所述第一反射裝置反射前或反射后穿過所述容器；

移動裝置，用于在測量待測固體時移開所述第一反射裝置，而使所述第二測量光照射到所述待測固體上；

探測器，用于分別接收所述參比光、穿過所述待測液體后的第一測量光和被所述待測固體反射后的第二測量光，并分別轉換為參比信號、第一測量信號和第二測量信號；

分析單元，用于處理所述探測器傳送來的所述參比信號、第一測量信號和第二測量信號，從而獲知所述待測液體和待測固體的參數。

2.根據權利要求1所述的物質分析系統，其特征在于，所述分析單元內設置有近紅外光譜分析模塊。

3.根據權利要求1所述的物質分析系統，其特征在于，所述物質分析系統進一步包括：

第二反射裝置，所述參比光、穿過所述容器后的第一測量光經所述第二反射裝置反射后射向所述第一反射裝置，所述第二測量光經所述第二反射裝置反射后射向所述待測固體。

4.根據權利要求1所述的物質分析系統，其特征在于，所述第一反射裝置采用參比板。

5.根據權利要求1所述的物質分析系統，其特征在于，所述參比光、第一測量光和第二測量光相同。

6.根據權利要求2所述的物質分析系統，其特征在于，所述光源為近紅外光源。

7.根據權利要求1所述的物質分析系統，其特征在于，采用儲能元件為所述光源、探測器和分析單元供電。

8.根據權利要求7所述的物質分析系統，其特征在于，所述儲能元件為電池。

9.根據權利要求7或8所述的物質分析系統，其特征在于，所述儲能元件還為所述移動裝置供電。