[實用新型]直列式二極管晶粒測分設備有效

申請號：	201020551318.6	申請日：	2010-10-05
公開（公告）號：	CN201853683U	公開（公告）日：	2011-06-01
發明（設計）人：	林加斌;許資彬	申請（專利權）人：	強茂電子（無錫）有限公司
主分類號：	H01L21/66	分類號：	H01L21/66
代理公司：	上海海頌知識產權代理事務所(普通合伙) 31258	代理人：	任益
地址：	214028 江蘇省***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	直列式二極管晶粒設備
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【權利要求書】：

1.一種直列式二極管晶粒測分設備，包括機身（18）、測試電腦（15），機身（18）上設置有工作臺面（17），其特征在于：所述工作臺面（17）上設置有列式晶粒吸盤（8）,?工作臺面（17）上列式晶粒吸盤（8）的后側設置有晶粒頂針（13），工作臺面（17）上晶粒頂針（13）的后側設置有晶粒分級盒（14）的落料槽（19），晶粒分級盒（14）設置在工作臺面（17）的下方，機身（18）上工作臺面（17）的上方兩側設置有滑動導軌（10），所述滑動導軌（10）上設置有可與其相對滑動的移動單元（11），所述移動單元（11）的下端面上設置有晶粒吸嘴（9），所述移動單元（11）的上方為機臺控制盒（12），機臺控制盒（12）通過連線（16）與移動單元（11）連接。

2.根據權利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設備，其特征在于：所述機臺控制盒（12）通過連線（16）與移動單元（11）下端面的晶粒吸嘴（9）連接。

3.根據權利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設備，其特征在于：所述測試電腦（15）設置在工作臺面（17）的下方、晶粒分級盒（14）的前端。

4.根據權利要求1所述的直列式二極管晶粒測分設備，其特征在于：所述工作臺面（17）上晶粒頂針（13）的后側晶粒分級盒（14）的落料槽（19）至少設置兩列。?

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