[實用新型]預處理型側向層析檢測組件無效
| 申請號： | 201020295826.2 | 申請日： | 2010-08-18 |
| 公開（公告）號： | CN201673153U | 公開（公告）日： | 2010-12-15 |
| 發明（設計）人： | 崔大祥;王賢松 | 申請（專利權）人： | 上海交通大學;蘇州康立達納米生物工程有限公司 |
| 主分類號： | G01N33/52 | 分類號： | G01N33/52;G01N33/558;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海衡方知識產權代理有限公司 31234 | 代理人： | 包文超 |
| 地址： | 200240 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 預處理 側向 層析 檢測 組件 | ||
【權利要求書】：
1.一種預處理型側向層析檢測組件，其特征在于包括
支撐部件，包括底座和蓋板；
蓋板，包括第一開口、第二開口和第三開口；
檢測部件，包括試劑墊、標記墊、層析墊和吸收墊；所述試劑墊和所述吸收墊設于所述檢測部件的兩端，所述標記墊與所述試劑墊連接，所述層析墊兩端分別與所述標記墊和所述吸收墊連接；
過濾部件，與所述第二開口配合；
所述檢測部件置于所述底座上，所述蓋板蓋于所述檢測部件。
2.根據權利要求1所述的預處理型側向層析檢測組件，其特征在于所述試劑墊置于所述第一開口下方。
3.根據權利要求1所述的預處理型側向層析檢測組件，其特征在于所述層析墊置于所述第二開口下方。
4.根據權利要求1所述的預處理型側向層析檢測組件，其特征在于所述層析墊還包括T線區和C線區，所述T線區和所述C線區位于所述第三開口下方。
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