[實用新型]微通道芯片檢測裝置無效
| 申請號: | 201020294300.2 | 申請日: | 2010-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN201673155U | 公開(公告)日: | 2010-12-15 |
| 發明(設計)人: | 崔大祥;王賢松 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學;蘇州康立達納米生物工程有限公司 |
| 主分類號: | G01N33/558 | 分類號: | G01N33/558 |
| 代理公司: | 上海衡方知識產權代理有限公司 31234 | 代理人: | 包文超 |
| 地址: | 200240 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 通道 芯片 檢測 裝置 | ||
1.一種微通道芯片檢測裝置,其特征在于包括檢測裝置本體、1個以上檢測芯片單元和磁體,所述檢測芯片單元和所述磁體設于所述檢測裝置本體,所述磁體設于所述檢測芯片單元的一端。
2.根據權利要求1所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于2個以上所述檢測芯片單元位于磁體的同側。
3.根據權利要求1所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于2個以上所述檢測芯片單元位于磁體的兩側。
4.一種微通道芯片檢測裝置,其特征在于包括檢測裝置本體、1個以上檢測芯片單元和磁體;所述檢測芯片單元和所述磁體設于所述檢測裝置本體;
所述檢測芯片單元,包括微通道主體、樣品容器、檢測槽和對照槽,且互相連通;
所述磁體設于所述微通道主體一端。
5.根據權利要求4所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于所述檢測芯片單元包括1個所述樣品容器、1個以上的所述微通道主體、1個以上的所述檢測槽和1個以上的所述對照槽,且至少有1個所述微通道主體的內腔、1個所述檢測槽的內腔和1個所述對照槽的內腔與所述樣品容器連通。
6.根據權利要求4所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于所述微通道主體內腔的平均徑寬為20-200μm。
7.根據權利要求4所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于所述微通道主體內腔的平均徑寬為50-180μm。
8.根據權利要求4所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于所述微通道主體內腔的平均徑寬為70-150μm。
9.根據權利要求4所述的微通道芯片檢測裝置,其特征在于所述微通道主體內腔的平均徑寬選自于70μm、75μm、80μm、75μm、90μm、95μm、100μm、105μm、110μm、115μm、120μm、125μm、130μm、135μm、140μm、145μm或150μm。
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