[實用新型]一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀

無效

• 申請號: 201020196288.1
• 申請日: 2010-05-18
• 公開（公告）號: CN201765405U
• 公開（公告）日: 2011-03-16
• 發明（設計）人: 謝超英
• 申請（專利權）人: 創維液晶器件(深圳)有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

技術領域

本實用新型屬于液晶模組測試技術領域，尤其涉及一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀。?

背景技術

液晶模組(Liquid?Crystal?Module，LCM)是指將液晶顯示器件、連接件、控制與驅動等外圍電路、PCB電路板、背光源等結構件裝配在一起形成的組件，其以極強的顯示柔性被廣泛應用于各種消費電子產品(如MP3、MP4、手機、數碼相機等)的輸入輸出單元上。?

在LCM生產過程中，需要對LCM產品進行功能測試，包括測試LCM的顯示顏色是否正常、LCM的工作電壓、電流等參數是否在可接受范圍等。該功能測試的過程一般包括如下幾個步驟：給LCM提供合適的工作電壓；對LCM初始化；寫入圖像數據到LCM；人眼觀測LCM顯示結果，進而判斷LCM的顯示顏色是否正常；反饋測試LCM的工作電流、電壓是否在可接受范圍，進而判斷LCM的電性能是否正常。?

現有技術提供的液晶模組測試裝置在對包含MCU接口的LCM產品進行上述功能測試時，單純使用單片機的單一接口，通過控制線、數據線將LCM的初始化數據及測試圖像數據寫入LCM，通過人眼判斷LCM的顯示顏色是否正常；同時通過一電源模塊直接提供LCM的工作電壓，使用電壓表、電流表測試LCM的工作電壓、電流是否正常。由于該液晶模組測試裝置單獨使用了單片機和電源模塊，使得其結構復雜、操作繁瑣。?

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種液晶模組測試裝置，旨在解決現有技術提供的液晶模組測試裝置由于單獨使用了單片機和電源模塊，使得其結構復雜、操作繁瑣的問題。?

本實用新型是這樣實現的，一種液晶模組測試裝置，所述裝置包括：?

上電后將存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入所述待測液晶模組的控制器、同時向所述待測液晶模組輸出相應的工作電壓的液晶模組測試儀，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口；以及?

連接所述液晶模組測試儀的所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部，所述液晶模組測試儀是順次通過所述IDE接口以及轉接部連接所述待測液晶模組的控制器的。?

上述液晶模組測試儀可以包括：?

存儲單元；?

上電后將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口；?

將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號后通過所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和IDE接口。?

上述液晶模組測試儀還可以進一步包括：?

將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號并輸出的模數轉換器，所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；?

當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所述存儲單元存儲的預設電壓范圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理器。?

上述液晶模組測試儀還可以進一步包括：?

連接所述微處理器的輸入輸出單元。?

上述存儲單元可以是一電可擦可編程只讀存儲器。?

本實用新型的另一目的在于提供一種液晶模組測試儀，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口，所述液晶模組測試儀通過一連接所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部連接所述待測液晶模組。?

上述液晶模組測試儀可以進一步包括：?

存儲單元；?

上電后將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口；?

將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號后通過所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和IDE接口。?

上述所述液晶模組測試儀還可以包括：?

將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號并輸出的模數轉換器，所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；?

當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所述存儲單元存儲的預設電壓范圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理器。?

上述液晶模組測試儀還可以包括：?