[實用新型]一種液晶模組測試裝置及液晶模組測試儀無效
| 申請號： | 201020196288.1 | 申請日： | 2010-05-18 |
| 公開（公告）號： | CN201765405U | 公開（公告）日： | 2011-03-16 |
| 發明（設計）人： | 謝超英 | 申請（專利權）人： | 創維液晶器件(深圳)有限公司 |
| 主分類號： | G02F1/13 | 分類號： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳中一專利商標事務所 44237 | 代理人： | 張全文 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 液晶 模組 測試 裝置 測試儀 | ||
1.一種液晶模組測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
上電后將存儲的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入所述待測液晶模組的控制器、同時向所述待測液晶模組輸出相應的工作電壓的液晶模組測試儀，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口；以及
連接所述液晶模組測試儀的所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部，所述液晶模組測試儀是順次通過所述IDE接口以及轉接部連接所述待測液晶模組的控制器的。
2.如權利要求1所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述液晶模組測試儀包括：
存儲單元；
上電后將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口；
將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號后通過所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和IDE接口。
3.如權利要求2所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述液晶模組測試儀還包括：
將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號并輸出的模數轉換器，所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；
當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所述存儲單元存儲的預設電壓范圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理器。
4.如權利要求2所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述液晶模組測?試儀還包括：
連接所述微處理器的輸入輸出單元。
5.如權利要求2至4任一項所述的液晶模組測試裝置，其特征在于，所述存儲單元是一電可擦可編程只讀存儲器。
6.一種液晶模組測試儀，其特征在于，所述液晶模組測試儀包括有IDE接口，所述液晶模組測試儀通過一連接所述IDE接口和所述待測液晶模組的MCU接口的轉接部連接所述待測液晶模組。
7.如權利要求6所述的液晶模組測試儀，其特征在于，所述液晶模組測試儀進一步包括：
存儲單元；
上電后將從所述存儲單元讀取出的與待測液晶模組相應的初始化數據、參數數據寫入待測液晶模組的控制器、同時輸出從所述存儲單元讀取出的待測液晶模組輸出相應的數字工作電壓信號的微處理器，所述微處理器連接所述存儲單元和IDE接口；
將所述微處理器輸出的所述數字工作電壓信號轉換成模擬工作電壓信號后通過所述IDE接口輸出給所述待測液晶模組的數模轉換器，所述數模轉換器連接所述微處理器和IDE接口。
8.如權利要求7所述的液晶模組測試儀，其特征在于，所述液晶模組測試儀還包括：
將所述IDE接口反饋的模擬電壓信號轉換成數字電壓信號并輸出的模數轉換器，所述模數轉換器連接所述IDE接口和微處理器；
當所述微處理器比較得到所述模數轉換器輸出的所述數字電壓信號的電壓值超過所述存儲單元存儲的預設電壓范圍值時發出報警的提示單元，所述提示單元連接所述微處理器。
9.如權利要求7所述的液晶模組測試儀，其特征在于，所述液晶模組測試儀還包括：?
連接所述微處理器的輸入輸出單元。
10.如權利要求7至9任一項所述的液晶模組測試儀，其特征在于，所述存儲單元是一電可擦可編程只讀存儲器。?
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