[實用新型]測試系統

有效

• 申請號: 201020148312.4
• 申請日: 2010-03-24
• 公開（公告）號: CN201628953U
• 公開（公告）日: 2010-11-10
• 發明（設計）人: 顧漢玉
• 申請（專利權）人: 華潤賽美科微電子(深圳)有限公司
• 主分類號: G06F11/00
• 分類號: G06F11/00;G06F21/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

【技術領域】

本實用新型涉及一種電子設備，尤其涉及一種應用于半導體產品生產過程中對半導體產品的半成品及成品進行測試的測試系統。

【背景技術】

一般情況下，不同測試機配置不同的測試電腦進行電路測試。測試電腦中裝載的電腦操作系統各式各樣如Dos，Windows?ME/98/95/NT/2000/XP/2003/Vista等。同時在測試電腦中安裝專用測試軟件或其他軟件。但一般測試電腦只有軟件防病毒，沒有硬件防毒的裝置。實際使用中測試電腦又經常會發生電腦中毒，導致無法進行測試或者測試錯誤的情況，甚至引起生產事故。

且在測試電腦的硬盤的磁盤分區中，文件會被分散保存到磁盤的不同地方，而不是連續地保存在磁盤連續的簇中。又因為在文件操作過程中，Windows系統可能會調用虛擬內存來同步管理程序，這樣就會導致各個程序對硬盤頻繁讀寫，從而產生磁盤碎片。硬盤讀取文件需要在多個碎片之間跳轉，增加了等待盤片旋轉到指定扇區的潛伏期和磁頭切換磁道所需的尋道時間，從而磁盤碎片會顯著降低硬盤的運行速度，從而增加了測試程序的運行時間，增加了生產成本。或測試過程中對程序的誤改、誤刪都會導致測試的無法進行或測試結果錯誤的情況。

【實用新型內容】

基于此，有必要提供一種正常進行測試的測試系統。

一種測試系統，包括：測試裝置、與測試裝置連接并控制測試裝置進行測試的測試電腦，所述測試電腦的硬盤中劃分有保護分區，所述測試系統還包括與測試電腦連接的并還原測試電腦的硬盤的保護分區的硬件還原卡。

在優選的實施例中，所述保護分區為所述測試電腦的系統盤。

在優選的實施例中，所述硬件還原卡接收所述測試電腦重啟信號則還原測試電腦的系統盤以使其恢復為原始狀態。

在優選的實施例中，所述測試裝置為測試半導體晶圓電參數的晶圓測試機。

在優選的實施例中，還包括服務器，所述測試電腦與服務器連接，所述測試電腦的測試數據存儲到服務器中或測試電腦的硬盤的系統盤外的分區中。

在優選的實施例中，所述服務器為局域網服務器，所述測試電腦通過接入局域網中以服務器連接。

在優選的實施例中，所述測試電腦的硬盤中劃分有用于暫存測試電腦當前操作信息的隱藏空間，所述測試電腦的當前操作信息根據需要從所述隱藏空間更新到所述保護分區或重新啟動后自動清除。

在優選的實施例中，所述硬件還原卡為PCI接口。

在優選的實施例中，所述硬件還原卡包括CMOS保護模塊。

上述的測試系統通過硬件還原卡對測試機電腦的保護分區進行還原以對保護分區中存儲的系統及軟件如操作系統及測試專用軟件起保護作用。當測試電腦出現病毒、或人為破壞，磁盤碎片等問題時，只要重新啟動測試電腦，硬件還原卡將自動恢復測試電腦的保護分區為原始狀態。以使測試電腦及時回復正常，進行正常測試。降低了測試電腦的無故障率，同時降低了測試過程由于測試電腦故障而引起的生產事故，同時提高了生產效率。

【附圖說明】

圖1為本實用新型一實施例的測試系統的結構示意圖。

【具體實施方式】

下面結合附圖對本實用新型一實施例進行進一步的說明。

如圖1所示，本實用新型的一實施例的測試系統包括：測試裝置20、與測試裝置20連接并用于控制測試裝置20進行測試的測試電腦40、及與測試電腦40連接的硬件還原卡60。測試電腦40的硬盤中劃分有保護分區。硬件還原卡60用于還原測試電腦40硬盤的保護分區。

測試裝置20為測試半導體晶圓電參數的晶圓測試機。晶圓測試機為用于半導體圓片和成品測試的一種專用設備。其內部有多種測試模塊，可以實現各種電參數的測量。晶圓測試機與探針臺配合，可以完成晶圓的電參數的測試。

保護分區可以為測試電腦的系統盤如C盤，當然也可選用其他盤。本實施例中，硬盤的保護分區為系統盤，其中專用測試軟件也裝載在系統盤中(如C盤)。

測試電腦40連接測試裝置20，測試裝置20在測試機電腦40的專用測試軟件的控制下，通過編程，完成各種測試。

測試電腦40與服務器80連接。本實施例中，服務器為局域網服務器。不同測試裝置20的測試電腦40都集中接入局域網中，以與服務器80連接。服務器80存儲或存放測試電腦40的資料，包括共用資源如殺毒軟件、也包括各自的測試數據。當某一臺測試電腦40出現病毒，服務器80的殺毒軟件對測試電腦40進行提示。