[實用新型]測試系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201020148312.4 | 申請日： | 2010-03-24 |
| 公開（公告）號： | CN201628953U | 公開（公告）日： | 2010-11-10 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 顧漢玉 | 申請（專利權(quán)）人： | 華潤賽美科微電子(深圳)有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/00 | 分類號： | G06F11/00;G06F21/00 |
| 代理公司： | 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518116 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 系統(tǒng) | ||
1.一種測試系統(tǒng)，包括：測試裝置、與測試裝置連接并控制測試裝置進行測試的測試電腦，其特征在于，所述測試電腦的硬盤中劃分有保護分區(qū)，所述測試系統(tǒng)還包括與測試電腦連接的還原測試電腦的硬盤的保護分區(qū)的硬件還原卡。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述保護分區(qū)為所述測試電腦的系統(tǒng)盤。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述硬件還原卡接收所述測試電腦重啟信號則還原測試電腦的系統(tǒng)盤以使其恢復(fù)為原始狀態(tài)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試裝置為測試半導(dǎo)體晶圓電參數(shù)的晶圓測試機。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，還包括服務(wù)器，所述測試電腦與服務(wù)器連接，所述測試電腦的測試數(shù)據(jù)存儲到服務(wù)器中或測試電腦的硬盤的系統(tǒng)盤外的分區(qū)中。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述服務(wù)器為局域網(wǎng)服務(wù)器，所述測試電腦通過接入局域網(wǎng)中以服務(wù)器連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試電腦的硬盤中劃分有用于暫存測試電腦當前操作信息的隱藏空間，所述測試電腦的當前操作信息根據(jù)需要從所述隱藏空間更新到所述保護分區(qū)或重新啟動后自動清除。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述硬件還原卡為PCI接口。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，所述硬件還原卡包括CMOS保護模塊。
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