[實(shí)用新型]高精度半導(dǎo)體芯片測試熱板無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201020141137.6 | 申請日: | 2010-03-22 |
| 公開(公告)號: | CN201663710U | 公開(公告)日: | 2010-12-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐偉;項(xiàng)衛(wèi)光 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江正邦電力電子有限公司 |
| 主分類號: | H05B3/02 | 分類號: | H05B3/02;H05B3/06;G01R1/00 |
| 代理公司: | 永康市聯(lián)縉專利事務(wù)所(普通合伙) 33208 | 代理人: | 柯利進(jìn) |
| 地址: | 321400 浙江省縉云*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高精度 半導(dǎo)體 芯片 測試 | ||
1.一種高精度半導(dǎo)體芯片測試熱板,包括金屬板、電爐絲、溫控器和熱電偶,該金屬板置于電爐絲上方,溫控器與設(shè)置于金屬板中的熱電偶連接,其特征是:所述電爐絲接在調(diào)壓器次級上,若干補(bǔ)償電熱管分別設(shè)于金屬板側(cè)向配合的安裝孔中,溫控器連接和控制各補(bǔ)償電熱管。
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