[實(shí)用新型]一種用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201020134455.X | 申請日: | 2010-03-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201622111U | 公開(公告)日: | 2010-11-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 左愛斌;于梅 | 申請(專利權(quán))人: | 中國計(jì)量科學(xué)研究院 |
| 主分類號(hào): | G01H9/00 | 分類號(hào): | G01H9/00;G01B9/02 |
| 代理公司: | 北京中創(chuàng)陽光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11003 | 代理人: | 尹振啟 |
| 地址: | 100013*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 振動(dòng) 計(jì)量 噪聲 外差 激光 干涉儀 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀。
背景技術(shù)
目前傳統(tǒng)用于振動(dòng)計(jì)量的外差激光干涉儀結(jié)構(gòu)中,一般將參考光進(jìn)行調(diào)制,測量光直接經(jīng)分光器件反射或透射后對被測物進(jìn)行測量。但測量光經(jīng)被測物體反射后,容易從原光路返回激光器中,使激光器因光反饋而引起振蕩或自激,從而容易導(dǎo)致激光模式不穩(wěn)定,影響到激光的輸出功率和頻率。尤其是被測物體處于漫反射狀態(tài)時(shí),能夠進(jìn)入探測器的光線很少,一方面要求漫反射回來的光盡量多,以求得到更多的有效測量光,另一方面又由于反射光會(huì)直接返回激光器引起激光的不穩(wěn)定,從而在增大光電信號(hào)本底噪聲的同時(shí),使激光的波長不穩(wěn)定,進(jìn)一步影響到測量精度。
發(fā)明內(nèi)容
針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題,本發(fā)明的目的在于提供一種降低光電信號(hào)的本底噪聲,提高信噪比和測量精度的用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明一種用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀,包括激光器、第一分光器、第一反射鏡、第二反射鏡、聲光調(diào)制器、第二分光器、1/4波片和探測器,激光器發(fā)出的激光經(jīng)第一分光器分光,透射光依次經(jīng)過第一反射鏡反射、第二分光器透射后作為參考光,進(jìn)入探測器;激光經(jīng)第一分光器的反射光依次經(jīng)過第二反射鏡、聲光調(diào)制器調(diào)制、第二分光器后作為測量光,并經(jīng)1/4波片后用來測量被測物體,被測物體漫反射的反射光返回依次經(jīng)1/4波片、第二分光器反射后形成有效測量光進(jìn)入探測器,與參考光干涉。
進(jìn)一步,所述第一反射鏡和第二反射鏡均為直角反射鏡。
進(jìn)一步,所述第一分光器和第二分光器均為單波長偏振分光器,分光器端面鍍有相應(yīng)波長的增透膜。
進(jìn)一步,所述第一分光器的分光面與所述激光器輸出光路成45°。
本發(fā)明在不增加額外光學(xué)器件及相同激光強(qiáng)度以及探測器的前提下,解決了當(dāng)被測物體處于漫反射狀態(tài)時(shí),在增大有效測量光的同時(shí),減少返回到激光腔的反射光,從而降低光電信號(hào)的本底噪聲,提高信噪比和測量精度,確保系統(tǒng)穩(wěn)定。
附圖說明
圖1為本發(fā)明結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示,本發(fā)明一種用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀,包括激光器1、第一分光器2、第一反射鏡3、第二反射鏡4、聲光調(diào)制器5、第二分光器6、1/4波片7和探測器9。其中,第一分光器2和第二分光器6均為單波長偏振分光器,分光器端面鍍有相應(yīng)波長的增透膜,第一分光器2的分光面與激光器1輸出光路成45°,第一反射鏡3和第二反射鏡4均為直角反射鏡。
激光器1發(fā)出的激光經(jīng)第一分光器2后分成透射光和反射光,在第一分光器2的透射光方向設(shè)置有第一反射鏡3,第一反射鏡3將透射光反射到第二分光器6,透射光經(jīng)第二分光器6后作為參考光進(jìn)入探測器9。在經(jīng)第一分光器2的反射光方向依次放置第二反射鏡4和聲光調(diào)制器5,并使得經(jīng)聲光調(diào)制器5調(diào)制后的光經(jīng)第二分光器6后作為測量光,經(jīng)過1/4波片7后入射到被測量物體8,被測物體漫反射的反射光返回,其再經(jīng)1/4波片7、第二分光器6后作為參考光進(jìn)入探測器9,與參考光進(jìn)行干涉。
本發(fā)明中反射鏡也可用其它直角反射鏡代替,聲光調(diào)制器也可用其它方式的調(diào)制器代替,只要滿足光路設(shè)置要求即可。
本實(shí)用新型一種用于振動(dòng)計(jì)量的低噪聲外差激光干涉儀可用于中高頻穩(wěn)態(tài)振動(dòng)的高精度測量。在振動(dòng)傳感器靈敏度幅值和相位測量裝置中,主要由振動(dòng)激勵(lì)系統(tǒng)(包括振動(dòng)信號(hào)源,功率放大器,振動(dòng)臺(tái)等)、外差激光干涉儀、信號(hào)調(diào)理系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)組成。振動(dòng)信號(hào)源經(jīng)功率放大器激勵(lì)振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生振動(dòng),外差激光干涉儀對產(chǎn)生的振動(dòng)進(jìn)行測量,并將測量得到的光電信號(hào)送到信號(hào)調(diào)理系統(tǒng)。
信號(hào)調(diào)理系統(tǒng)的主要功能是低通濾波和混頻移頻。由于包含調(diào)制信號(hào)的頻帶范圍與載波頻率相比往往很小,因此,在對多普勒信號(hào)進(jìn)行A/D采樣之前,需要通過混頻器將調(diào)制載波信號(hào)(一般40MHz或160MHz)降至適合于模一數(shù)轉(zhuǎn)換的頻帶范圍內(nèi)。光電信號(hào)經(jīng)放大后與本振信號(hào)一起進(jìn)入混頻器進(jìn)行混頻,得到包含振動(dòng)信號(hào)的差頻低頻信號(hào),再經(jīng)低通濾波后由數(shù)據(jù)采集卡采集處理,最后經(jīng)數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算與處理,得到振動(dòng)的精確數(shù)值。
外差激光干涉儀測量系統(tǒng)最顯著的特點(diǎn)是利用載波技術(shù)將被測物理量的信息轉(zhuǎn)換成為調(diào)頻或調(diào)相信號(hào)。由于外差干涉光電信號(hào)以交流的方式進(jìn)行傳輸、處理,因此提高了光電信號(hào)信噪比。它與零差激光干涉儀測量系統(tǒng)相比,具有抗干擾能力強(qiáng)、分辨率高、線性度高、噪聲低、動(dòng)態(tài)范圍寬、測量誤差小、位移測量可達(dá)納米量級等優(yōu)點(diǎn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國計(jì)量科學(xué)研究院,未經(jīng)中國計(jì)量科學(xué)研究院許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201020134455.X/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 振動(dòng)輪振動(dòng)機(jī)構(gòu)
- 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)振動(dòng)源
- 直線振動(dòng)振動(dòng)梁式高頻振動(dòng)篩
- 振動(dòng)給料機(jī)的振動(dòng)機(jī)構(gòu)
- 振動(dòng)裝置及包括該振動(dòng)裝置的振動(dòng)設(shè)備
- 振動(dòng)組件及振動(dòng)電機(jī)
- 振動(dòng)設(shè)備用振動(dòng)電機(jī)
- 振動(dòng)電機(jī)及振動(dòng)設(shè)備
- 振動(dòng)元件以及振動(dòng)裝置
- 振動(dòng)托盤及振動(dòng)箱





